广皓天HAST箱达成采购，助力半导体研发提质

更新时间：2026-10-12

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近日，广皓天 HAST 高压加速老化试验箱成功完成项目交付采购，正式入驻半导体研发实验室，为芯片封装、半导体元器件可靠性验证提供专业环境试验支撑，有效提升产品研发测试能力，加速新品迭代进程。

半导体器件对耐湿、耐热可靠性要求严苛，HAST 高压加速老化试验箱通过高温高压高湿的加速环境，可快速激发芯片封装、引脚、塑封材料内部潜在缺陷，替代传统长时间湿热老化测试，大幅缩短可靠性验证周期，是半导体研发环节核心试验设备。本次采购的广皓天 HAST 箱，温控、湿压控制精度稳定，腔体温压场均匀性优异，可精准模拟严苛湿热应力环境，满足半导体行业加速老化测试标准，适用于封装芯片、功率器件、半导体模组等样品的可靠性考核。

在半导体研发过程中，元器件失效隐患若不能在研发阶段及时检出，会带来后期应用风险。广皓天 HAST 箱能够在短时间内加速水汽渗透，快速暴露塑封层、界面结合处的微小缺陷，帮助研发团队高效评估材料选型、封装工艺的稳定性，减少样品长期测试的时间成本。设备配备安全防护联锁、压力监测与超温保护系统，保障长时间连续试验安全运行，数据记录完整可追溯，满足企业研发与第三方检测的数据规范要求。

本次设备采购落地，补齐了实验室半导体高加速湿热老化测试能力短板。依托广皓天 HAST 箱稳定可靠的试验性能，研发团队将持续开展半导体封装可靠性研究，优化产品工艺，提升元器件在复杂工况下的耐用性能。未来双方将保持技术协同，持续优化试验方案，以可靠环境试验装备赋能半导体研发提质增效，助力半导体器件可靠性技术持续突破。

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