广皓天 HAST 箱成功交付，支撑车规芯片可靠性试验

更新时间：2026-10-12

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近日，广皓天 HT-HAST 系列高加速应力试验箱顺利完成交付、现场安装调试，正式入驻客户半导体可靠性实验室，专项用于车规级芯片封装湿热可靠性验证，为客户开展 AEC-Q100 车规认证提供国产可靠试验装备支撑，助力国产车规半导体研发与品质管控提速。

随着新能源汽车与智能驾驶产业快速发展，车规芯片长期工作于机舱高温、高湿、温差波动的复杂工况，对封装防潮、抗腐蚀能力提出严苛要求。HAST 高加速应力试验通过高温、高压、高湿复合应力环境，快速激发塑封分层、金属线路腐蚀、漏电、离子迁移等隐性失效，将传统湿热测试上千小时的验证周期压缩至数十小时，大幅缩短芯片研发验证周期，是车规芯片认证核心试验设备。本次交付设备严格遵循 JESD22-A110、AEC-Q100 等行业标准设计，支持 UHAST 无偏压、B-HAST 带电偏压多种试验模式，精准控制温、湿、压耦合参数，实现无凝露测试，避免芯片假性失效，保障试验数据稳定、可复现。

广皓天研发团队针对半导体车规测试场景优化设备结构，优化腔体压力控制系统、高精度传感模块与安全联锁保护，具备长时间连续稳定运行能力，可满足 BGA、QFN 等各类车规封装芯片批量可靠性筛查。设备交付阶段，广皓天技术团队完成现场装机、校准、操作培训与验收，为客户提供全流程技术服务。

作为国内环境试验设备专业厂商，广皓天持续深耕半导体、汽车电子可靠性测试领域，不断HAST、快速温变、冷热冲击等系列试验设备方案。本次 HAST 箱落地，进一步夯实广皓天在车规半导体测试装备赛道的实践案例，推动环境试验设备国产化替代。未来广皓天将持续打磨产品性能，以稳定可靠的试验装备，赋能更多半导体企业攻克车规芯片可靠性验证难题，助力国内汽车芯片产业链高质量发展。

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