半导体芯片非饱和HAST老化试验机采用不结露高压高温高湿环境，模拟芯片长期使用下的工作条件。整机采用不锈钢内胆与防爆门锁结构，配备高精度温湿度传感器与PLC智能控制系统，支持恒定、循环及斜率老化模式。设备符合JESD22-A110、AEC-Q100等国际可靠性测试标准，适用于晶圆级封装、引线键合、MEMS及封装芯片的早期失效筛选与寿命评估。