广皓天达成新合作冷热冲击试验箱赋能半导体可靠性测试

更新时间：2026-09-08

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近日，广皓天与国内半导体企业完成项目合作，定制化冷热冲击试验箱顺利完成交付、安装调试并验收落地，正式投入客户可靠性实验室使用，为芯片、功率半导体器件开展冷热冲击可靠性验证提供硬件支撑，助力半导体产品品质管控与研发迭代。

当前半导体器件持续向高集成、小型化方向发展，BGA、QFN 等多种封装结构由不同热膨胀系数材料组合而成，在温度急剧交变工况下极易产生热应力，引发封装分层、焊点开裂、键合线断裂等隐性失效问题，直接影响芯片长期使用稳定性。冷热冲击测试作为半导体封测环节关键验证工序，需要严格参照 JEDEC JESD22‑A104 行业标准开展试验，对试验设备温域范围、切换速度、温场均匀性以及长期连续运行能力提出严苛要求。客户经过多轮技术方案对比与样机实测评估，最终选定广皓天冷热冲击试验解决方案。

本次交付的冷热冲击试验箱采用成熟三箱蓄温结构，可实现‑70℃~150℃宽温域运行，高低温区间快速切换，舱内温场均匀稳定，搭载智能 PID 闭环控制系统，支持自定义编辑多组试验程序，完整存储留存试验数据，实现试验过程可溯源，可高效完成多批次半导体封装样品的应力筛选与研发验证工作，快速暴露封装工艺、材料匹配层面潜在缺陷。

此次合作，是客户对广皓天设备性能、定制化能力与全流程技术服务的认可。未来广皓天将持续深耕环境试验设备技术研发，打磨适配半导体、汽车电子等制造领域的测试装备，以国产可靠测试设备助力半导体产业链高质量发展，为更多行业客户提供专业化环境可靠性测试整体解决方案。

广皓天达成新合作冷热冲击试验箱赋能半导体可靠性测试

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