近日，广皓天环境试验设备与国内半导体企业成功签约，将多台 HAST 高压加速老化箱交付至客户封测实验室，聚焦芯片封装耐湿热可靠性验证，助力半导体产业提升产品稳定性与研发效率，为国产芯片高质量发展筑牢测试根基。
随着半导体技术向微型化、高集成化快速演进，芯片封装在高温、高湿等复杂工况下的长期稳定性成为产业核心关切。传统温湿度测试周期长达上千小时，已难以匹配当前快速迭代的研发节奏。HAST 加速老化箱通过模拟高温、高湿、高压的环境，可在 96 小时内等效完成传统测试 1000 小时的老化效果，快速激发封装分层、金属腐蚀、绝缘漏电等潜在失效，将测试效率提升近 10 倍。
广皓天此次交付的 HAST 加速老化箱，严格遵循 IEC 60068-2-66、JESD22-A110 等国际测试标准，温度范围 105℃-135℃、湿度 65% RH-100% RH、压力 0.2-2kg/cm²，适配 BGA、QFN 等主流芯片封装测试需求。设备搭载自研高精度控制系统，温湿度波动控制在 ±1℃内，气压稳定性达 ±0.005MPa，确保测试数据精准可靠，可精准捕捉芯片老化失效瞬间。
作为环境试验设备领域的深耕者，广皓天长期聚焦半导体、新能源、汽车电子等领域，坚持技术自主创新，构建全生命周期服务体系。此次合作，既是半导体行业对广皓天设备技术实力与品质稳定性的高度认可，也是国产试验设备助力半导体产业自主可控的重要实践。
未来，广皓天将持续深耕 HAST 加速老化测试技术，针对 AI 芯片、功率半导体等产品需求，推出定制化测试解决方案，以可靠的设备与专业的服务，赋能更多半导体企业提升核心竞争力，推动国产半导体产业高质量发展。
服务热线：15876446198
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更新时间：2026-05-14 
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