广皓天冷热冲击箱落户浙江大学，助力芯片封装可靠性

更新时间：2026-05-12

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近日，广东广皓天检测仪器有限公司自主研发的冷热冲击试验箱正式入驻浙江大学实验室，将为该校半导体芯片封装可靠性研究提供关键环境测试支撑，推动高校在微电子领域的科研创新与成果转化。

随着芯片集成度不断提升，封装结构在温差下的分层、焊点开裂等失效风险日益突出，可靠性验证成为芯片研发的核心环节。浙江大学在半导体材料与芯片设计领域深耕多年，此次引入广皓天冷热冲击箱，正是为满足芯片封装严苛的温变测试需求，攻克热应力导致的可靠性难题。

该设备具备 - 70℃至 150℃超宽温域，可实现 3 秒极速冷热切换，精准模拟芯片在复杂工况下的温度冲击场景。搭载高精度 PID 控制系统，控温精度达 ±0.1℃，温场均匀性≤±2℃，契合 JEDEC 等国际半导体测试标准。通过加速温变循环，可快速暴露封装界面的潜在缺陷，为封装材料选型、结构优化提供量化数据支撑。

广皓天作为技术企业，深耕环境试验设备研发二十余年，拥有 50 余项，产品广泛应用于半导体、航空航天等领域。此次与浙江大学的合作，是产学研深度融合的重要实践，既助力高校提升科研硬件实力，也为半导体行业可靠性测试提供高效解决方案。

未来，双方将以此次合作为基础，围绕芯片可靠性测试技术开展联合研发，加速科研成果产业化，为我国半导体产业高质量发展注入新动能。

广皓天冷热冲击箱落户浙江大学，助力芯片封装可靠性

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