非饱和加速老化试验箱 电子行业可靠性是模拟高温、高湿、高压非饱和蒸汽环境的精密试验设备。它通过创造远高于传统恒温恒湿箱（如85℃/85%RH）的严苛条件，在不施加电偏压的情况下，极大加速材料吸湿、腐蚀、分层等失效过程，是评估产品耐湿性和长期可靠性的关键工具。

HAST加速老化箱，快速模拟温湿度环境是一款利用高温、高湿及高压环境，快速模拟并放大产品在自然环境下长期所受湿热应力的高可靠性测试设备。它通过非饱和或饱和蒸汽原理，在数小时或数天内重现常规温湿度测试需要数月甚至数年才能诱发的失效模式，是评估电子元器件、半导体封装、新材料及各类工业产品耐候性与长期可靠性的关键工具。

HAST加速老化箱 连续运行设备是一款专为电子元器件、半导体芯片、封装材料、高分子制品等产品设计的高可靠性寿命评估与失效分析设备。它通过模拟并强化高温、高湿、高气压的严苛环境条件，在短时间内激发产品的潜在缺陷，实现产品长期使用可靠性的快速验证。本型号专为需要长时间、不间断的可靠性试验而优化设计，确保设备具备稳定性与耐久性。

非饱和加速老化箱用于密封件寿命评估仪器是一款专为密封件（如O型圈、油封、垫片等）寿命评估而设计的非饱和加速老化试验箱。它通过精确控制温度、湿度及压力，在非饱和蒸汽环境中加速模拟密封件在实际工况下的老化过程，从而在短时间内预测其长期使用性能与寿命。设备采用优质不锈钢内胆、模块化设计，具备高稳定性和重复性，是密封件研发、质量控制及可靠性评估的关键仪器。