高压防过温HAST老化箱专为半导体、PCB、电子模块及封装器件设计，采用高压、高湿、高温加速老化测试方案，创新集成“防过温"安全控制系统。箱体整体采用316L不锈钢，配备多级压力保护与温度上限切断机制，能在121℃、100%RH、2个标准大气压条件下长期稳定运行。设备支持不结露模式与结露模式切换，满足JEDEC、IEC、MIL等国际测试标准，是电子元器件可靠性验证的理想工具。

高压防过温HAST老化箱

产品详情
本设备专为半导体、PCB、电子模块及封装器件设计，采用高压、高湿、高温加速老化测试方案，创新集成“防过温"安全控制系统。箱体整体采用316L不锈钢，配备多级压力保护与温度上限切断机制，能在121℃、100%RH、2个标准大气压条件下长期稳定运行。设备支持不结露模式与结露模式切换，满足JEDEC、IEC、MIL等国际测试标准，是电子元器件可靠性验证的理想工具。

高压防过温HAST老化箱

用途
主要用于评估电子组件在湿热高压环境下的抗老化能力与失效模式，包括：IC芯片封装密封性测试、PCB板层间耐压评估、光伏组件耐候性检验、LED支架腐蚀性试验、传感器防潮能力验证等。常用于质量控制、失效分析、研发筛选及可靠性认证环节。

技术参数

• 温度范围：105℃～142℃

• 湿度范围：75%～100% RH

• 压力范围：0.02～0.21 MPa（表压）

• 温度波动度：±0.5℃

• 湿度波动度：±3% RH

• 内箱尺寸：350×400×450 mm（可定制）

• 电源：380V / 三相五线制

• 功率：5.5 kW

箱体结构与材质
外箱采用冷轧钢板喷塑处理，耐腐蚀抗刮擦；内箱及所有与蒸汽接触部件均使用SUS316L不锈钢，防止铜、锌等有害离子析出。箱门配置硅胶防爆密封圈与机械式安全门锁，顶部设有自动排气阀及手动泄压口。加热系统位于箱底夹层，采用盘管式加热器，独立温控探针远离加热源，避免局部过热。

工作原理
通过电加热方式将底部纯净水转化为高温饱和蒸汽，在密闭箱体内形成高压、高湿环境。微电脑控制器根据压力传感器与温湿度探头信号，实时调节加热功率与进气/排气电磁阀，维持稳定测试条件。防过温功能由独立于主控系统的机械式限温器实现：当温度超过设定上限（如145℃）时，直接切断加热回路，防止超温导致的样品损伤或设备损坏。

性能特点

• 精准防过温：双重温控保护（软件+机械）

• 不结露模式可选，避免冷凝水滴落污染样品

• 自动补水与水位监测，支持长时间连续运行

• 故障自诊断及声光报警提示

• 可存储10组常用测试配方，一键调用

技术优势
相比普通HAST设备，本机型核心优势在于“防过温+高压稳定性"：机械式独立限温器杜绝软件死机或探头漂移导致的安全风险；内箱全316L无铜设计，杜绝金属迁移对微电路测试的干扰；支持饱和/非饱和两种湿度模式，适用更广泛的测试标准（如JESD22-A110、A118）。同时，排气冷却系统可在测试结束后快速降压降温，提升操作效率与安全性。