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产品型号:TSD-120F-2P
厂商性质:生产厂家
更新时间:2025-11-05
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冷热冲击箱是专为模拟快速温度变化环境而设计的精密测试设备。它主要验证汽车电子元器件、模块及整机在遭遇温度剧烈冲击时的耐受能力和可靠性,提前暴露产品潜在缺陷,如材料开裂、焊点疲劳、性能漂移等,是保障汽车电子产品质量与安全的关键设备。
本设备主要用于测试产品在瞬间下经高温及极低温的连续环境下所能忍受的程度,适用于:
可靠性筛选:快速发现产品因热胀冷缩产生的工艺和材料缺陷。
质量验证:评估产品的耐温极限、工作寿命及性能稳定性。
研发测试:在新产品研发阶段,验证其设计方案的合理性与 robustness。


温度范围:高温箱 +60℃ ~ +150℃(或更高);低温箱 -10℃ ~ -55℃(或更低)
冲击范围:-40℃ ~ +125℃(典型值,满足汽车电子主流要求)
转换时间:<10秒(试样从高温区到低温区,或反之的切换时间)
温度恢复时间:<5分钟(冲击完成后,工作区内温度恢复到设定冲击温度的时间)
预热/预冷时间:约25分钟可从常温升至/降至设定温度
内箱尺寸:可根据客户需求定制(如 40cm * 40cm * 40cm)
结构形式:采用高可靠性的三箱式(高温区、低温区、测试区)垂直结构,测试过程中样品静止,通过篮筐移动冷热气流,冲击温变快,对样品无额外振动影响。
内箱材质:采用 SUS304# 不锈钢镜面板,耐腐蚀、易清洁,保证测试环境的纯净。
外箱材质:优质A3钢板,表面经防静电喷塑处理,美观且耐用。
保温层:高强度聚氨酯发泡,保温性能优异,有效减少能量损失,确保箱外壁不结露。
设备分为高温区、低温区和测试区。测试开始时,待测样品置于测试区。当开始测试时,根据预设程序,高温区或低温区的舱门会迅速打开,将储存好的高温或低温环境在短时间内注入测试区,对样品进行剧烈的温度冲击。待暴露时间结束,再迅速切换至另一温区,如此循环,实现冷热冲击的测试目的。


本设备严格遵循国内外相关测试标准设计制造,包括但不限于:
GB/T 2423.22
IEC 60068-2-14
GJB 150.5A
ISO 16750-4(道路车辆-电气和电子设备的环境条件和试验)
各主流车厂企业标准。
汽车电子:发动机控制单元(ECU)、车载信息娱乐系统、传感器、连接器、电池管理系统(BMS)等。
航空航天:机载电子设备、导航系统。
消费电子:智能手机、可穿戴设备等。
半导体及元器件:IC、芯片、电阻电容、PCB板等。

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