冷热冲击箱 电子组件环境可靠性检测仪器是一种用于模拟快速温度变化的环境可靠性测试设备。它通过瞬间的高温与极低温转换，在短时间内检验测试样品因热胀冷缩引起的化学变化或物理损伤，是评估电子产品、材料、元器件等耐环境能力的关键设备。

冷热冲击箱 电子组件环境可靠性检测仪器

产品详情
冷热冲击箱，又名温度冲击试验箱或高低温冲击试验箱，是一种用于模拟快速温度变化的环境可靠性测试设备。它通过瞬间的高温与极低温转换，在短时间内检验测试样品因热胀冷缩引起的化学变化或物理损伤，是评估电子产品、材料、元器件等耐环境能力的关键设备。

主要用途
该设备主要用于发现产品在研发、设计、制造过程中的潜在缺陷，如：

• 材料问题： 不同材料结合处的开裂、分层。

• 焊接问题： 焊点疲劳、断裂、虚焊。

• 封装问题： 芯片封装开裂、密封失效。

• 性能衰退： 在温度急剧变化下电气性能的不稳定。

冷热冲击箱 电子组件环境可靠性检测仪器

箱体结构与材质
冷热冲击箱通常采用三箱式（预冷区、预热区、测试区）或两箱式（高温区、低温区）结构。

• 外壳： 一般采用优质A3钢板，表面经过防锈处理与静电喷塑，美观且耐用。

• 内箱： 采用SUS304#不锈钢板，具有优异的耐高温、耐腐蚀性。

• 保温层： 采用高强度聚氨酯发泡或超细玻璃棉，确保优异的隔热性能，提高能效并保证外壁温度安全。

• 样品篮/吊篮： 用于承载样品在高温区和低温区之间移动，结构坚固，确保定位精准。

工作原理
其核心原理是通过机械传动，将测试样品在高温储温箱和低温储温箱之间快速切换，以实现温度冲击的效果。

1. 初始状态： 样品置于测试区（或通过吊篮悬挂于中间）。

2. 高温冲击： 样品被迅速移入已稳定在设定高温（如+150°C）的储温箱中，保持预设时间。

3. 快速转换： 在极短时间内（通常几秒至十几秒），样品被迅速移入已稳定在设定低温（如-65°C）的储温箱中。

4. 低温冲击： 在低温箱中保持预设时间，完成一次循环。如此反复，以检验产品对温度剧变的耐受性。

主要技术参数

• 温度范围： 高温区：+60°C ~ +200°C；低温区： -10°C ~ -65°C或更低。

• 转换时间： <10秒（从高温到低温或反之，样品移动式）。

• 温度恢复时间： <5分钟（在样品进入后，测试区恢复至设定温度的时间）。

• 预热/预冷容量： 确保在连续冲击下，高低温储温区温度稳定。

• 内箱尺寸： 根据客户需求定制，如 50x50x50cm 等。

• 控制系统： 彩色触摸屏，可编程控制器，实现全自动控制和数据记录。

满足标准
冷热冲击箱的设计严格遵循多项国际与国家测试标准，包括但不限于：

• GB/T 2423.22

• IEC 60068-2-14

• MIL-STD-883

• MIL-STD-202

• JESD22-A104

• GJB 150.5

应用领域
其应用范围极其广泛，几乎覆盖所有对可靠性有要求的工业领域：

• 电子电器： 半导体IC、芯片、PCB电路板、电阻电容、LED、汽车电子、航空航天电子。

• 汽车工业： 发动机控制系统、传感器、连接器、线束。

• 通讯行业： 手机、基站、光通讯器件。

• 科研机构： 新材料、新产品的研发与质量验证。