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冷热冲击箱 通信设备高低温循环试验设备

冷热冲击箱 通信设备高低温循环试验设备是一种用于测试材料、元器件及整机(尤其是通信设备)在瞬间经受高温度和极低温度连续变化的环境下的耐受能力的可靠性试验设备。它通过极速的温变,模拟严苛的温度冲击环境,以在短时间内发现产品的热胀冷缩引起的性能问题。

  • 产品型号:TSD-120F-2P
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2025-11-05
  • 访  问  量:114
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详细介绍

冷热冲击箱 通信设备高低温循环试验设备

一、产品概述
冷热冲击箱是一种用于测试材料、元器件及整机(尤其是通信设备)在瞬间经受高温度和极低温度连续变化的环境下的耐受能力的可靠性试验设备。它通过极速的温变,模拟严苛的温度冲击环境,以在短时间内发现产品的热胀冷缩引起的性能问题。

二、产品用途
本设备主要用于评估通信设备(如基站模块、光模块、交换机、手机芯片等)及其他电子产品的可靠性。其核心目的是:

  • 激发潜在缺陷: 快速发现因材料不匹配、焊接虚焊、封装不良等导致的早期故障。

  • 评估寿命与稳定性: 检验产品在温度循环下的性能稳定性与工作寿命。

  • 质量验证与筛选: 作为产品出厂前的重要筛选手段,提升批量产品的整体质量水平。



冷热冲击箱 通信设备高低温循环试验设备


三、技术参数

  • 温度范围: 高温箱:+60℃ ~ +150℃;低温箱:-10℃ ~ -55℃(或更低)

  • 冲击范围: -40℃ ~ +125℃(常用通信设备测试范围)

  • 转换时间: ≤10秒(试样从高温区切换到低温区或反之的完成时间)

  • 温度恢复时间: ≤5分钟内恢复并稳定到设定温度

  • 预热/预冷时间: 高温箱从常温至+150℃约30分钟,低温箱从常温至-55℃约60分钟

  • 内箱尺寸: 根据需求定制,如 50×50×50cm(宽×高×深)

四、箱体结构与材质

  • 结构形式: 通常采用三箱式(提篮式) 结构,分为高温区、低温区和测试区。试样置于提篮中,通过气动或电机驱动在温区间快速移动,避免箱体整体制冷制热,效率高。

  • 内箱材质: 采用SUS304#高级不锈钢板,耐腐蚀、光洁度高。

  • 外箱材质: 优质A3钢板,表面进行防静电喷塑处理,美观且耐用。

  • 保温层: 采用高强度聚氨酯发泡或超细玻璃棉,确保优异的保温性能,节能且保证箱外壁不结露。

五、工作原理
设备核心原理是通过机械传动将测试样品在高低温蓄热区之间进行快速切换

  1. 待机状态: 高温区和低温区分别持续加热和制冷,达到并稳定在设定温度。

  2. 冲击过程: 当开始测试时,装载样品的提篮根据预设程序,在极短时间内从常温区移动到高温区,进行高温暴露。

  3. 温度切换: 高温暴露结束后,提篮迅速移出并立即切换到低温区,进行低温暴露。如此循环,实现对样品的连续温度冲击。

冷热冲击箱 通信设备高低温循环试验设备


六、满足标准
本设备严格遵循国内外相关测试标准设计制造,包括但不限于:

  • GB/T 2423.22《环境试验 第2部分:试验方法 试验N:温度变化》

  • IEC 60068-2-14《环境试验 第2-14部分:试验N:温度变化》

  • MIL-STD-810H《环境工程考虑和实验室试验》方法503.7(温度冲击)

  • Bellcore(Telcordia)相关标准

  • 各通信设备制造商(如华为、中兴等)的内部企业标准。

七、应用领域
除通信设备外,本设备还广泛应用于:

  • 航空航天: 卫星组件、机载电子设备。

  • 汽车电子: 车载传感器、控制器(ECU)、电池管理系统。

  • 消费电子: 智能手机、笔记本电脑、可穿戴设备。

  • 半导体及集成电路: 芯片、封装器件的可靠性筛选。



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