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紫外线老化试验箱半导体材料

紫外线老化试验箱半导体材料
表面氧化、性能衰退等问题，助力企业评估半导体材料在复杂环境下的可靠性与稳定性，为材料选型、工艺优化及产品质量管控提供关键数据支持。

产品型号：HT-UV3
厂商性质：生产厂家
更新时间：2025-07-02
访问量：95

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联系电话：0769-81085066

详细介绍

生产厂家广东皓天检测仪器有限公司拥有专业的生产研发技术，一站式周到服务。作为一家专注于试验设备产品的大型仪器制造商，皓天设备致力于为消费者提供技术、品质的优秀产品。

紫外线老化试验箱半导体材料

工作原理

以荧光紫外线灯管为光源，模拟太阳光中的紫外线辐射，半导体材料受紫外线光子轰击，引发电子跃迁、化学键断裂等物理化学反应。温度控制系统模拟高温、低温环境，加速材料老化；制冷系统实现低温环境模拟；试验箱通过冷凝或湿度调节系统营造高湿环境。多种环境因素协同作用，在短时间内重现半导体材料在自然环境中长时间的老化过程，以便快速评估其性能变化。

紫外线老化试验箱半导体材料

紫外线老化试验箱半导体材料

产品优势

精准模拟：多系统协同，精确还原半导体实际应用环境，测试结果可靠。

高效加速：大幅缩短老化测试周期，提升研发与质检效率。

智能操控：配备触摸屏，支持多参数编程与自定义试验循环，操作便捷。

稳定耐用：选用优质核心部件，结合制造工艺，保障设备长期稳定运行。

安全防护：具备漏电保护、超温报警、缺水保护等多重安全措施，保障人员与设备安全。

定制灵活：可根据半导体材料类型与测试需求，定制特殊功能模块，满足个性化测试要求。

紫外线老化试验箱半导体材料

技术参数

温度范围：-20℃～120℃，涵盖半导体工作温度区间。

湿度范围：20%～95% R・H，精准模拟各类湿度环境。

紫外线波长：UV-A（315 - 400nm）、UV-B（280 - 315nm）双波段可切换，满足不同测试需求。

辐照强度：0.1 - 3.5W/㎡连续可调，模拟不同光照强度。

试验时间：0 - 9999h 自由设定，支持长时间老化测试。

温度均匀度：±1℃，湿度均匀度：±2%，确保箱内环境稳定均一。

紫外线老化试验箱半导体材料

温度控制系统

采用 PID 智能控温算法与高精度铂电阻温度传感器，实时监测箱内温度。当温度偏离设定值时，系统自动调节加热丝功率与制冷系统运行状态。针对高温环境，加热丝快速升温；低温环境下，制冷系统迅速制冷，实现 ±0.5℃的精准控温，为半导体材料老化测试提供稳定温度环境。

制冷系统

配备双级复叠制冷技术与进口高效压缩机，搭配环保制冷剂，制冷效率高且能耗低。风冷式冷凝器与翅片式蒸发器协同工作，结合智能节流装置，可快速将箱内温度降至 -20℃ 。通过 PID 调节精确控制制冷量，确保低温环境稳定，满足半导体材料低温老化测试需求。

紫外线老化试验箱半导体材料

产品用途

专为半导体芯片、晶圆、封装材料等研发与质检打造，核心功能是模拟自然环境中紫外线辐射、温度、湿度变化等对半导体材料的老化影响。通过精准调控紫外线强度、温湿度、光照时长等参数，加速半导体材料老化过程，可快速检测出材料晶格畸变、表面氧化、性能衰退等问题，助力企业评估半导体材料在复杂环境下的可靠性与稳定性，为材料选型、工艺优化及产品质量管控提供关键数据支持。

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