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紫外线老化试验箱电子芯片

紫外线老化试验箱电子芯片
助力企业评估电子芯片在复杂环境下的可靠性与使用寿命，为芯片材料选型、工艺优化和质量管控提供关键数据支持。

产品型号：HT-UV3
厂商性质：生产厂家
更新时间：2025-07-02
访问量：119

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联系电话：0769-81085066

详细介绍

生产厂家广东皓天检测仪器有限公司拥有专业的生产研发技术，一站式周到服务。作为一家专注于试验设备产品的大型仪器制造商，皓天设备致力于为消费者提供技术、品质的优秀产品。

紫外线老化试验箱电子芯片

产品用途

专为集成电路、半导体芯片等电子芯片研发、生产及质量检测设计，旨在模拟自然环境中紫外线、温度、湿度等因素对芯片封装材料、基板、键合线等部件的老化作用。通过精准调控紫外线辐射强度、温湿度、光照时间等参数，加速芯片材料老化进程，可快速检测出芯片材料的开裂、分层、绝缘性能下降等问题，助力企业评估电子芯片在复杂环境下的可靠性与使用寿命，为芯片材料选型、工艺优化和质量管控提供关键数据支持。

紫外线老化试验箱电子芯片

紫外线老化试验箱电子芯片

温度控制系统

采用高精度 PID 智能控温算法，搭配铂电阻温度传感器，实时监测箱内温度变化。当温度偏离设定值时，系统自动调节加热丝功率，结合风冷或水冷辅助散热，将温度精确控制在 ±0.5℃范围内。超温保护装置在温度异常时立即切断电源并报警，保障设备和芯片样品安全。

制冷系统

选用进口高效压缩机，配合环保制冷剂，制冷效率高、能耗低。采用风冷式冷凝器和翅片式蒸发器，结合智能节流装置，可快速降低箱内温度。通过 PID 调节控制制冷量，确保温度稳定，即使在高温高湿环境下也能实现精准制冷。

紫外线老化试验箱电子芯片

加湿系统

采用超声波加湿技术，将水雾化成微小颗粒，通过风机送入试验箱内。高精度湿度传感器实时监测箱内湿度，PID 控制系统根据设定值自动调节加湿量，可实现湿度的快速稳定调节，湿度控制精度达 ±2% R・H。

工作原理

以荧光紫外线灯管为光源，模拟太阳光中的紫外线辐射，引发芯片材料分子链断裂、氧化等光化学反应。温度控制系统模拟高温、低温环境，加速材料老化；制冷系统实现低温环境模拟；加湿系统营造高湿环境。冷凝系统模拟露水侵蚀，多种环境因素协同作用，在短时间内模拟电子芯片在自然环境中长时间的老化过程，以便快速评估其性能变化。

产品优势

精准测试：多系统协同控制，精准模拟复杂环境，测试结果真实可靠。

高效加速：加速老化过程，大幅缩短芯片研发和质检周期。

智能操控：配备触摸屏，支持多参数编程和自定义试验循环。

稳定耐用：采用优质核心部件，确保设备长期稳定运行。

安全防护：具备漏电、超温、缺水等多重保护机制。

灵活定制：可根据芯片类型定制特殊功能，满足个性化测试需求。

技术参数

湿度范围：20%～95% R・H，精准模拟各类湿度环境。

紫外线波长：UV-A（315 - 400nm）、UV-B（280 - 315nm），可灵活切换。

辐照强度：0.1 - 2.0W/㎡连续可调，适配不同测试场景。

黑板温度：40℃～80℃，精确控制样品表面温度。

试验时间：0 - 9999h 自由设定，支持长时间老化测试。

湿度均匀度：±2%，温度均匀度：±1℃，确保箱内环境稳定。

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