非饱和加速老化箱是一款基于非饱和加压蒸汽原理设计的环境可靠性测试设备。它通过精确控制温度、湿度和压力，在非饱和状态下（相对湿度低于100%）创造出一个高度加速且贴近真实世界的老化环境，主要用于快速评估材料和产品的长期耐久性与寿命。

HAST高压加速老化试验箱通过高温、高湿、高压复合环境，快速激发样品潜在缺陷，大幅缩短老化验证周期，替代传统湿热老化。设备腔体采用耐高压不锈钢材质，密闭承压结构，配备智能压力、温湿度闭环控制系统，安全泄压、超温保护多重防护，运行稳定，操作便捷。

高压加速老化箱 半导体塑封分层失效测试用于半导体塑封器件加速可靠性验证，通过高温高压高湿环境，快速激发塑封料与芯片、引线框架界面分层、水汽侵入等失效缺陷，替代传统湿热长时间老化，大幅缩短半导体塑封分层失效验证周期，是芯片封装、车规半导体研发与来料检测核心设备。

HAST加速老化箱 芯片封装可靠性验证试验箱专门针对芯片封装器件开展加速寿命可靠性验证。通过高温高压高湿环境，放大水汽渗透、界面脱粘、金属腐蚀等失效机理，大幅缩短芯片可靠性验证周期，替代传统湿热老化，是半导体封装、车规芯片研发与来料检测核心设备。