高压加速老化试验箱 电子元件可靠性测试是一种利用高温、高湿、高压环境，对电子元器件、半导体芯片、集成电路封装、PCB及新材料等进行加速老化寿命测试及耐环境可靠性评估的环境试验设备。它通过模拟并化产品在高温高湿环境下的劣化过程，在实验室短时间内快速评估其长期可靠性，是现代电子产品质量控制与可靠性工程的关键工具。

高压加速老化试验箱 电子元件可靠性测试生产厂家广东皓天检测仪器有限公司拥有专业的生产研发技术，一站式周到服务。作为一家专注于试验设备产品的大型仪器制造商，皓天设备致力于为消费者提供技术、品质的优秀产品。

产品详情
高压加速老化试验箱，简称HAST试验箱，是一种利用高温、高湿、高压环境，对电子元器件、半导体芯片、集成电路封装、PCB及新材料等进行加速老化寿命测试及耐环境可靠性评估的环境试验设备。它通过模拟并化产品在高温高湿环境下的劣化过程，在实验室短时间内快速评估其长期可靠性，是现代电子产品质量控制与可靠性工程的关键工具。

高压加速老化试验箱 电子元件可靠性测试

主要用途
该设备主要用于加速评估产品的耐湿性、防潮能力及长期使用可靠性。核心目的是：1）缩短测试周期，在几天或几周内预测产品数年甚至数十年的寿命与失效情况；2）暴露设计缺陷，快速发现封装、材料、工艺中潜在的薄弱环节；3）质量鉴定与筛选，为产品量产、入市提供可靠性数据支持。

工作原理
HAST的工作原理基于阿伦尼乌斯模型和压力锅效应。它在一个密闭的腔体内，通过电加热水产生非饱和加压蒸汽，形成远高于常规恒温恒湿箱的环境条件（如130℃, 85%RH, 0.26MPa）。在高温高压的共同作用下，水蒸气能更快速渗透进入产品封装内部，加速引发诸如腐蚀、离子迁移、封装开裂、线材 bond 失效等与湿气相关的失效机理，从而将漫长的自然老化过程压缩至可接受的试验时间内。

主要功能及特点

• 高压加速：在非饱和高压蒸汽环境下，提供加速因子（可达常规THB测试的数十倍）。

• 精确控制：可对温度、湿度（饱和度）、气压进行高精度闭环控制，确保试验条件的一致性。

• 安全可靠：配备多重超压、超温、漏电保护及安全阀，确保长期高压运行安全。

• 灵活编程：支持多段程式设定，满足不同标准（如JESD22-A110）或自定义测试流程。

• 数据记录：实时记录并存储全过程试验参数，便于后续分析与追溯。

应用场景

• 半导体行业：IC、MOSFET、存储器等芯片的封装可靠性测试。

• 汽车电子：满足AEC-Q100/101/200等车规级可靠性认证要求。

• 航天：高可靠性元器件的老化筛选与质量鉴定。

• 消费电子：手机模块、智能穿戴设备、LED封装等耐湿热测试。

• 新材料研发：评估封装胶、基板、涂层等材料的防潮性能与寿命。

技术特点

1. 非饱和控制技术：精准控制腔内蒸汽的饱和度，避免冷凝水直接滴落样品，更贴近实际失效模式。

2. 快速升降温：采用高效加热与冷却系统，缩短试验循环时间，提升测试效率。

3. 高均匀性腔体设计：确保腔内各点温湿度均匀一致，保证测试结果的准确性。

4. 耐腐蚀结构：内胆及核心部件采用高级不锈钢或复合材料，长期抵抗高温高压高湿腐蚀。

5. 智能化人机界面：大屏触摸屏控制，操作直观，支持远程监控与数据导出。