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产品型号:TSD-100F-2P
厂商性质:生产厂家
更新时间:2026-01-05
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本款可程式冷热冲击试验箱是一款环境可靠性测试设备,专为模拟产品在高低温瞬时交替环境下的适应性而设计。设备配备USB数据导出功能,可将完整的测试曲线、过程参数及结果数据便捷导出,便于后续分析与报告生成。它采用高精度微电脑控制器,具备出色的温度控制与快速转换能力,是提升产品质量与可靠性的关键测试工具。
该设备主要用于测试电子电器、汽车零部件、航空航天产品、半导体、金属、化工材料、LED照明等,在遭遇剧烈温度变化时的物理性能变化、材料稳定性以及各部件之间的兼容性。通过冷热冲击测试,可在短时间内快速评估产品的可靠性、耐久性及潜在缺陷,有效缩短产品研发周期,提高市场竞争力。
温度范围:高温槽:+60℃ ~ +200℃;低温槽:-65℃ ~ -10℃(或定制至-80℃)
转换时间:高温 → 低温 ≤ 15秒;低温 → 高温 ≤ 15秒(试样区实测)
温度恢复时间:≤ 5分钟(达到设定温度±2℃以内)
内箱尺寸:可根据需求定制(如40*35*35cm等标准规格)
温度波动度:≤±0.5℃
温度均匀度:≤±2.0℃
控制方式:可程式触摸屏控制,支持多段程式编辑与存储
数据记录:内置存储,支持USB导出,记录间隔可调
外箱材质:优质冷轧钢板,表面经防锈磷化、静电喷塑处理,美观耐用。
内箱材质:采用SUS304#不锈钢板,耐高温、耐腐蚀,易于清洁。
保温层:高强度聚氨酯发泡,确保优异的保温性能与节能效果。
样品架:不锈钢可调节式样品架,承重强,通风设计合理。
观察窗:多层中空钢化玻璃防凝露观察窗,内置照明灯,方便实时观察。
移动机构:采用气动或伺服电机驱动吊篮/提篮移动,转换平稳精确。
设备通常采用三箱式(预冷区、预热区、测试区)或两箱式(吊篮移动式)结构。测试时,试样置于测试区(或吊篮中)。根据预设程序,通过高速驱动机构,将试样在数十秒内迅速移入已稳定在高温或低温的对应温区。试样在两个温度环境中进行快速、交替的暴露,从而在内部产生剧烈的热应力,以加速暴露产品因热胀冷缩导致的潜在故障。
本设备严格符合多项国际与国家测试标准,包括但不限于:
电工电子产品:GB/T 2423.1-2008 (IEC 60068-2-1)、GB/T 2423.2-2008 (IEC 60068-2-2)、GJB 150.5A
设备:MIL-STD-202G、MIL-STD-810G
汽车行业:ISO 16750、IEC 60068-2-14
广泛应用于航空航天、汽车电子、半导体集成电路、LED光电、通讯设备、精密电子元件、新材料研发、科研院校等领域的产品质量验证与可靠性筛选。
模块化设计:制冷、加热、控制等系统相对独立,便于维护与升级。
智能控制:彩色触摸屏人机界面,操作直观,支持程序链接、循环、预约启动。
高效节能:采用环保制冷剂及高效压缩机,配合优化的气流设计,降温迅速且能耗低。
安全可靠:具备多重安全保护(超温、漏电、短路、压缩机过热/过压/过流保护、缺相保护等)。
数据追溯:USB数据导出功能确保测试过程全程可追溯,满足严谨的实验室质量管理要求。




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