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产品型号:THC-1000PF
厂商性质:生产厂家
更新时间:2025-12-17
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本高低温试验箱是专为电子元件、集成电路、PCB板及小型模块的研发与可靠性测试而设计的精密环境模拟设备。它通过精确再现温度条件,为研发人员评估产品在高温、低温及温度循环下的性能、可靠性及失效模式提供关键数据,是提升产品品质与耐用性的实验仪器。
性能验证:测试电子元件在标称高低温极限下的功能是否正常。
可靠性筛选:通过温度循环或高低温冲击,提前发现元器件潜在的工艺缺陷(如焊接不良、材料热膨胀系数不匹配)。
寿命评估:模拟长期存储或工作下的温度应力,加速老化过程,预估产品寿命。
失效分析:确定产品因温度变化导致的性能退化或损坏的临界点。
温度范围:-70℃ ~ +150℃(可选-40℃~+150℃或更宽范围)
温度波动度:≤±0.5℃
温度均匀度:≤±2.0℃
升温速率:3℃~5℃/min (线性,空载)
降温速率:1℃~3℃/min (线性,空载)
内箱容积:标准80L、150L、225L(可根据需求定制)
控制器:7英寸/10.1英寸全彩触摸屏,支持多段程式编程,USB数据存储。
外箱材质:优质冷轧钢板,表面静电喷涂防腐烤漆,外观耐用。
内箱材质:采用SUS304#镜面不锈钢板,耐腐蚀、易清洁,保证测试环境纯净。
保温层:高强度聚氨酯发泡+超细玻璃棉,高效隔热,确保箱体外部低温不凝露、高温不烫手。
观察窗:多层中空电热防霜钢化玻璃窗,内置照明LED灯,便于实时观察试样状态。
样品架:不锈钢可调间距支架,承重强度高,可根据试样灵活调整。
设备设计符合以下国际、国家及行业标准:GB/T 2423.1、GB/T 2423.2(电工电子产品环境试验)、IEC 60068-2-1、IEC 60068-2-2、GJB 150、MIL-STD等。
除电子元件研发实验室外,还广泛应用于:
半导体与集成电路:芯片、传感器测试。
通信行业:光模块、交换机、路由器部件测试。
新能源汽车:BMS、车载控制器、充电桩模块测试。
消费电子:手机、可穿戴设备关键部件测试。
航空航天:机载电子设备的可靠性验证。




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