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产品型号:TEA-225PF
厂商性质:生产厂家
更新时间:2025-10-10
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快速温变箱 半导体芯片温循测试专用设备
产品详情
本产品是一款专为半导体芯片、集成电路(IC)及电子元器件的可靠性测试而设计的高性能快速温变试验箱。它通过模拟快速变化的温度条件,精准复现产品在研发、制造及使用过程中可能遭遇的热应力环境,是提升芯片质量与可靠性的关键检测设备。
主要用途
主要用于半导体行业的温度循环测试(Thermal Cycling) 和高低温冲击测试。通过急剧的温度变化,加速暴露芯片内部材料(如硅片、焊点、封装材料)因热膨胀系数(CTE)不匹配导致的疲劳、开裂、分层等潜在缺陷,用于工艺验证、失效分析、质量鉴定与筛选,显著提高产品出厂良率与服役寿命。


快速温变箱 半导体芯片温循测试专用设备
技术参数
温度范围:-70℃ ~ +150℃(或更宽,可根据需求定制)
变温速率:10℃/min ~ 25℃/min(线性或非线性,可根据特定区间定制)
温度波动度:≤±0.5℃
温度均匀度:≤±2.0℃
内箱尺寸:可根据客户需求定制(如80L、150L、400L等)
控制器:彩色触摸屏PLC,支持多段程序编程,具备USB数据记录功能
箱体结构与材质
内箱材质:采用高级SUS304#不锈钢镜面板,耐腐蚀、光洁度高,确保测试环境的纯净。
外箱材质:优质A3钢板,表面经防静电喷塑处理,坚固耐用。
保温层:高强度聚氨酯发泡保温材料,厚度超常规,确保优异的隔热性能与能耗效率。
样品架:专用不锈钢样品托架,通风设计合理,确保气流均匀穿透产品。
密封:硅橡胶双层高低温密封条,门框带加热防凝露装置,保证温度下的密封性。
温度控制系统
制冷系统:采用二元复叠式风冷(或水冷)制冷系统,核心部件为全封闭泰康/谷轮等品牌压缩机,确保快速达到深度低温并维持强劲的降温能力。
加热系统:镍铬合金电加热器,独立安装,安全可靠,升温迅速。
循环风道:特殊设计的强力离心风机与风道,形成垂直或水平循环气流,实现箱内温度的均匀性和高变温速率。




设备亮点与优势
精准高效:变温速率和精准的温度控制,能大幅缩短测试周期,快速筛选出有缺陷的产品。
均匀性:优化的风道设计确保工作空间内温度场高度均匀,保证每颗芯片都处于相同的测试条件下。
稳定可靠:核心部件选用国际品牌,系统经过严格的耐久性测试,能够胜任长时间、高强度的连续运行。
智能便捷:人性化人机界面,程序编辑简单,支持远程监控与数据导出,便于进行数据追溯与分析。
专用性强:针对半导体芯片测试的严苛要求进行专门优化,是确保芯片产品可靠性的理想测试平台。
注意事项
设备应安置在通风良好、无尘、远离热源的实验室环境中。
定期检查并清理冷凝器过滤网,确保制冷系统高效运行。
放置测试样品时,总体积不应超过工作室容积的三分之二,确保气流畅通。
严禁测试易燃、易爆、易挥发性物品。
设备在温度运行时,请勿随意打开箱门,以防烫伤/冻伤及影响设备性能。

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