控温冷热冲击箱 电子模块耐温变测试仪器是一款专为电子模块、PCBA、微电子器件等产品进行耐温变性能及可靠性评估而设计的高精度控温冷热冲击箱。它通过精确控制的机械传动系统，使测试样品在高温区和低温区之间实现快速、无缝的切换，模拟温度骤变环境。该设备致力于检验电子模块在温度急剧变化条件下的电气性能、焊接可靠性、材料兼容性，是提升产品质量、缩短研发周期、确保批量一致性的关键测试仪器。

控温冷热冲击箱 电子模块耐温变测试仪器

产品详情

本产品是一款专为电子模块、PCBA、微电子器件等产品进行耐温变性能及可靠性评估而设计的高精度控温冷热冲击箱。它通过精确控制的机械传动系统，使测试样品在高温区和低温区之间实现快速、无缝的切换，模拟温度骤变环境。该设备致力于检验电子模块在温度急剧变化条件下的电气性能、焊接可靠性、材料兼容性，是提升产品质量、缩短研发周期、确保批量一致性的关键测试仪器。

控温冷热冲击箱 电子模块耐温变测试仪器

用途

本设备广泛应用于电子制造业的研发、质量控制和验证环节。主要用于：

• 电子元器件：测试芯片、电阻、电容、电感等在温度冲击下的性能稳定性与故障率。

• 电路模块 (PCBA)：评估印刷电路板组装件的焊接点可靠性、不同材料热膨胀系数（CTE）匹配度，及早发现虚焊、裂纹等潜在缺陷。

• 通讯与汽车电子：验证车载控制器、通讯模块、导航设备等在严寒与酷暑交替环境下的工作耐受性与耐久性。

• 航空航天电子设备：满足其对高可靠性要求的环境适应性测试标准。

技术参数

• 温度冲击范围：高温槽 +60℃ ~ +150℃；低温槽 -10℃ ~ -55℃（或可根据需求定制更宽范围）。

• 转换时间：样品从高温区到低温区（或反之）的切换时间 ≤10秒，确保温度冲击的严酷性。

• 温度恢复时间：在完成转换后，测试区内温度恢复到设定值的时间 ≤5分钟。

• 控温精度：±0.5℃。

• 温度波动度：±1.0℃。

• 样品区尺寸：可根据客户需求定制，如 400mm × 400mm × 350mm (宽×高×深)。

• 内外箱材质：内箱为SUS304#不锈钢镜面板，外箱为SECC优质冷轧钢板，并施以精密喷涂处理。

箱体结构与材质

• 整体结构：采用上下一体式设计，高温区位于上部，低温区位于下部，中间为样品测试区，结构紧凑，稳定性高。

• 内箱材质：工作室内壁采用 SUS304# 不锈钢镜面板，耐腐蚀、易清洁，且光洁表面不影响温度场均匀性。

• 外箱材质：主体结构为1.2mm厚SECC优质冷轧钢板，经防锈处理、磷酸皮膜喷涂及高温固化处理，外观美观且坚固耐用。