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复层恒温恒湿测试箱半导体
加湿系统(半导体专用)
复层恒温恒湿测试箱半导体
工作原理
复层工作室通过气闸式隔热层独立分区,每层配备半导体专用风道:气流经 HEPA 高效过滤器(过滤效率 99.99%@0.3μm)后形成垂直层流,风速 0.3m/s(避免晶圆表面颗粒沉积)。控温时,PID 温控系统结合红外温度传感器(直接监测样品表面温度),精准调节镍铬合金加热管与复叠式制冷系统;加湿 / 除湿系统根据预设曲线联动,通过湿度传感器实时反馈,在交变测试中实现温湿度同步切换(如从 - 40℃/10% RH 升至 85℃/85% RH 无缝过渡)。
在半导体测试中,温湿度均匀度达 ±0.5℃/±1% RH(箱内各点偏差),可连续 1000 小时稳定运行(数据波动≤0.2℃/0.5% RH)。支持半导体行业标准测试程序预设(如 JESD22-A106、AEC-Q100),可直接调用 "温度循环"“湿热稳态" 等模式。配备粒子计数器接口,实时监测箱内≥0.5μm 颗粒浓度(≤100 个 /ft³),符合半导体洁净测试要求。
针对半导体特性优化加湿系统,避免水质、颗粒污染,测试安全性提升;复层独立控温可同步开展不同器件测试(如同时测试晶圆与封装芯片),效率提升 3 倍;低湿控制精度达 5% RH,满足半导体低湿测试需求。
半导体测试专属用途
专为半导体器件测试设计,可模拟芯片、晶圆、封装件等在生产、运输及使用中的复杂温湿度环境。具体用途包括:半导体封装密封性测试,通过 90% RH 高湿环境验证胶体封装的防潮性能;芯片高低温湿热交变试验,模拟 - 40℃极寒到 125℃高温的户外环境切换;晶圆存储环境模拟,在 25℃/45% RH 恒定条件下测试长期性能稳定性。
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