温湿度冲击测试，模拟运输中骤变环境对元件焊点的影响，覆盖电子元件从研发到量产的全流程质检需求。复层式恒温恒湿试验箱电子元件

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复层式恒温恒湿试验箱电子元件

电子元件测试专属用途

复层式恒温恒湿试验箱电子元件

技术参数

温度范围：-50℃~150℃，针对芯片测试特设 - 40℃~85℃快速循环模式；湿度范围：10% RH~98% RH，在 30%~60% RH 常用区间波动度 ±1.5% RH；复层数量：2-3 层，单室容积 50-200L（适配中小型元件托盘）；升降温速率：1-3℃/min（电子元件专用档可调）；电源：AC380V±10%，50Hz，功率 5-10kW；噪音≤65dB（避免干扰元件测试信号）。

制冷系统：采用低振动压缩机组，搭配防凝露蒸发器，避免低温测试时元件表面结霜。制冷量动态调节范围 2-8kW，在 - 50℃低温下运行时，箱内振动量≤0.1g，不影响精密元件测试。

复层工作室通过隔热层独立分区，每层针对电子元件特性优化风道：气流经微孔导流板形成层流，风速控制在 0.5-1m/s，避免元件引脚受力。控温时，温控系统根据元件测试曲线（如 - 40℃保持 2h→升温至 85℃保持 2h）精准调节加热与制冷功率；加湿系统通过超声波雾化产生微米级水汽，与气流混合后均匀作用于元件表面，实现温湿度协同控制。

在电子元件测试中，温湿度控制精度达 ±0.3℃/±1% RH，可连续 720 小时稳定运行无偏差。支持多段程序联动，如同时在三层分别开展 “高温高湿"“低温低湿"“交变循环" 测试，测试效率提升 200%。配备防静电内胆（表面电阻 10⁸-10¹⁰Ω），避免元件静电损伤。