数显冷热冲击箱 电子传感器冲击测试仪器是一款数显冷热冲击试验箱，专为测试电子传感器、半导体芯片、PCB等产品在温度快速变化环境下的耐受性能而设计。它采用触摸屏人机界面，操作直观，数据读取清晰。设备通过严格的机械结构设计和精准的控制逻辑，模拟严苛的温度冲击环境，为产品的可靠性验证提供关键测试手段。

数显冷热冲击箱 电子传感器冲击测试仪器

产品详情

本产品是一款数显冷热冲击试验箱，专为测试电子传感器、半导体芯片、PCB等产品在温度快速变化环境下的耐受性能而设计。它采用触摸屏人机界面，操作直观，数据读取清晰。设备通过严格的机械结构设计和精准的控制逻辑，模拟严苛的温度冲击环境，为产品的可靠性验证提供关键测试手段。

主要用途

该设备广泛应用于电子元器件、汽车电子、航空航天、国防科技及通信设备等领域的质量控制和研发阶段。其主要用途是测试电子传感器及其他精密电子部件在遭遇瞬间剧烈温度变化时，其电气性能、机械性能及材料结构是否会发生故障、性能衰减或失效，从而评估产品的可靠性和使用寿命。

数显冷热冲击箱 电子传感器冲击测试仪器

技术参数

• 温度范围：高温区：+60℃ ~ +150℃；低温区：-55℃ ~ -10℃（或依定制）

• 冲击范围：-40℃ ~ +125℃（示例）

• 转换时间：小于10秒（试样从高温区暴露到低温区，或反之的完成时间）

• 温度恢复时间：小于5分钟（恢复至稳定测试条件）

• 预热/预冷时间：约30分钟（从常温升至/降限温度）

• 控制器：高精度数显触摸屏PLC，具备程序编辑与数据记录功能

• 内箱材质：采用 SUS304# 不锈钢，耐腐蚀，寿命长

设备亮点

• 三箱式结构：采用独特的高温区、低温区、测试区三箱式静止结构，测试过程中试样无需移动，通过篮筐运动实现冷热切换，极大减少机械应力对试样的干扰。

• 超快速温变：通过高效的蓄热/蓄冷槽和高性能风机，实现测试区内气体的快速置换，确保在10秒内完成温度冲击过程，满足测试标准。

产品优势

1. 高可靠性：关键元器件如压缩机、控制器均采用国际品牌，确保设备长期稳定运行。

2. 节能高效：优化的制冷系统和风道设计，使得设备在保持高性能的同时，能耗更低。

3. 安全防护：具备多重安全保护装置，包括超温保护、压缩机过载保护、风机过流保护、漏电断路器等，确保操作人员与设备安全。

4. 符合标准：设计符合乃至超越MIL-STD-883、IEC 60068-2-14等国际通用冲击测试标准。

产品特点

• 人性化操作：大尺寸触摸屏，可设定、显示所有测试参数与曲线，操作简单易学。

• 强大的软件功能：可编程多段测试模式，具备预约启动、手动/自动循环、故障自诊断及历史数据查询与导出功能。

• 优质保温：采用高强度聚氨酯发泡保温层，厚度充足，有效隔绝内外热交换，保证测试精度并降低外壳温度。

风道系统

设备采用特殊设计的双风道循环系统，分别对应高温区和低温区。每个风道均由耐高温/低温的离心风机、高效加热器/蒸发器及风门切换机构组成。通过精准控制风门的开合，将预冷或预热的空气迅速送入测试区，形成均匀、高速的气流，从而实现温度的快速切换和均匀分布，避免任何测试死角。

安装与调试

1. 场地要求：需放置在水平、坚固的地面上，周围预留足够空间（建议大于60cm）以利于散热和维护。

2. 环境条件：环境温度建议在5℃~30℃，湿度小于85%，且通风良好，无阳光直射和强烈振动。

3. 电源要求：需根据设备型号配置合适的独立电源（如380V AC），并可靠接地。

4. 专业调试：设备送达后，将由我方专业工程师进行开箱检查、就位安装、接线，并现场进行开机调试、性能测试及操作人员培训，确保设备各项指标合格并正常交付使用。