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高低温冷热冲击试验箱电子元器件专用

为电子元器件的研发、生产及质检提供关键数据支撑，确保其在汽车电子、消费电子、工业控制等领域的稳定运行。高低温冷热冲击试验箱电子元器件专用

  • 产品型号：TSD-100F-3P
  • 厂商性质：生产厂家
  • 更新时间：2025-08-11
  • 访  问  量：151
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详细介绍

生产厂家广东皓天检测仪器有限公司拥有专业的生产研发技术，一站式周到服务。作为一家专注于试验设备产品的大型仪器制造商，皓天设备致力于为消费者提供技术、品质的优秀产品。

高低温冷热冲击试验箱电子元器件专用

用途

专为电子元器件可靠性测试设计，可模拟温度骤变环境，验证芯片、电容、电阻、连接器等在 - 65℃至 150℃冲击下的性能稳定性。适用于检测 IC 芯片在温度循环中的引脚焊接强度，测试 PCB 板在快速温变下的线路导通性，评估连接器在冷热冲击后的插拔力变化。’

高低温冷热冲击试验箱电子元器件专用

高低温冷热冲击试验箱电子元器件专用

技术参数

温度范围：-65℃~150℃，冲击温度切换范围 - 55℃~125℃

升降温速率：高温区升温 15℃/min，低温区降温 10℃/min（空载）

温度偏差：±1℃，温度波动度≤±0.5℃

工作室尺寸：400mm×350mm×300mm，可容纳 500 个以上小型贴片元件

循环次数：0~9999 次可调，支持单次循环自动复位

样品架：采用防静电材质，表面电阻 10⁶~10⁹Ω，避免静电损坏元器件

高低温冷热冲击试验箱电子元器件专用



温度控制系统

搭载高精度 PID 温控系统，配备进口铂电阻传感器（PT100），采样频率达 20 次 / 秒，可精准捕捉元器件表面温度变化。针对电子元器件热容量小的特点，采用微温差补偿算法，确保样品区各点温度均匀性≤±0.8℃。控制系统支持 100 组测试程序存储，每组可设置 20 段温变曲线，满足 JEDEC、IPC 等电子行业标准测试要求。


高低温冷热冲击试验箱电子元器件专用


制冷系统工作原理

采用复叠式制冷循环，高温级使用 R404A 制冷剂，低温级采用 R23 制冷剂，搭配高效涡旋压缩机，制冷量达 8kW（-60℃时）。蒸发器采用铜制微通道结构，增强与空气的热交换效率，配合变频风机实现冷量精准分配。制冷系统与加热模块联动控制，通过快速切换冷热气流，使电子元器件在 10 秒内完成从高温到低温（或反之）的冲击，模拟实际应用中的温度变化。


高低温冷热冲击试验箱电子元器件专用



产品优势

  1. 防静电设计：整机采用防静电接地处理，工作室及样品架均为防静电材质，避免静电击穿敏感电子元器件，满足 ESD 20.20 标准。

  1. 精准控温：针对电子元器件对温度敏感的特性，通过微温差控制技术，确保温度冲击过程中的精度，减少测试误差。

  1. 高效节能：采用变频制冷与加热技术，比传统设备节能 25% 以上，适合长时间批量测试。

  1. 安全防护：配备超温报警、过流保护、漏电保护等多重安全装置，同时设有样品短路保护功能，防止测试过程中元器件损坏导致的设备故障。

  1. 数据追溯：支持与电子元器件测试管理系统对接，自动记录温度、时间、循环次数等参数，生成符合行业标准的测试报告，便于质量追溯。



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