广泛应用于多个领域。在电子行业，可精准测试智能手机、平板电脑等产品外壳在特定跌落高度下的抗摔性能；IK 垂直冲击试验机低能量冲击专用

冲击能量范围：0.01J-2J，精准覆盖 IK00 至 IK07 等级测试，配备 8 种微型锤头（质量 0.01kg-0.5kg）。

跌落高度设定范围：10mm-500mm，支持 0.01mm 级微调，采用压电式传感器定位，精度达 ±0.05mm。

锤头材质：钛合金（硬度 HRC35-40），表面经镜面抛光（Ra0.02μm），避免冲击时划伤试样表面。

测试重复性：连续 20 次测试能量偏差≤±0.3%，垂直度偏差≤0.1°，冲击时间误差≤1ms。

电源规格：DC 24V/10A，额定功率≤50W，适配实验室低压安全供电系统。

设备尺寸：600mm×500mm×1200mm（长 × 宽 × 高），重量约 80kg，配备便携式提手。

• 微能量控制：0.01J 级能量精度为行业水平，较通用机型测试分辨率提升 10 倍，满足超精密产品测试需求。

• 试样保护性强：钛合金锤头与低冲击应力设计，可对柔性材料（如 OLED 屏幕、超薄玻璃）进行无损冲击测试，避免过度破坏。

• 操作安全便捷：低压直流供电 + 防误触设计，适合实验室桌面级操作，单人即可完成测试全流程，效率较传统设备提升 50%。

• 数据追溯性高：自带微型打印机，可实时输出冲击能量、时间、次数等参数报告，支持与实验室 LIMS 系统对接，满足质量追溯要求。