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快速温变试验箱 用于元器件老化筛选试验

快速温变试验箱 用于元器件老化筛选试验是专为电子元器件、PCB板、集成电路(IC)、模块等产品的可靠性老化筛选而设计的精密环境测试设备。它通过快速、精确地在高温与低温之间进行循环转换,在短时间内对测试品施加极限温度应力,从而加速暴露其潜在缺陷,如焊接不良、材料热膨胀系数不匹配、芯片封装缺陷等,是提升产品批次可靠性与出厂质量的关键设备。

  • 产品型号:TEB-408PF
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2025-12-31
  • 访  问  量:383
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详细介绍

    快速温变试验箱 用于元器件老化筛选试验生产厂家广东皓天检测仪器有限公司拥有专业的生产研发技术,一站式周到服务。作为一家专注于试验设备产品的大型仪器制造商,皓天设备致力于为消费者提供技术、品质的优秀产品。

    产品详情
    本设备是专为电子元器件、PCB板、集成电路(IC)、模块等产品的可靠性老化筛选而设计的精密环境测试设备。它通过快速、精确地在高温与低温之间进行循环转换,在短时间内对测试品施加极限温度应力,从而加速暴露其潜在缺陷,如焊接不良、材料热膨胀系数不匹配、芯片封装缺陷等,是提升产品批次可靠性与出厂质量的关键设备。

    主要用途

    • 工程筛选(ESS):在产品出厂前,通过施加快速温变应力,提前剔除存在早期失效隐患的“瑕疵品"。

    • 可靠性验证:评估元器件在模拟的严苛温度循环环境下的耐久性、性能稳定性及寿命。

    • 质量控制:作为生产线质量控制的关键环节,确保交付产品的环境适应性和长期工作可靠性。

    • 失效分析:通过再现失效模式,为产品设计改进和工艺优化提供依据。

    快速温变试验箱 用于元器件老化筛选试验

    技术参数

    • 温度范围:-70℃ ~ +150℃(可根据需求定制)

    • 温变速率:10℃/min ~ 25℃/min(线性,可选更高规格,如提篮移动式)

    • 内箱尺寸:标准80L~1000L,支持定制

    • 温度波动度:≤±0.5℃

    • 温度均匀度:≤±2.0℃(空载,按国标测试)

    • 控制精度:±0.1℃

    • 转换时间:高温→低温(或反之)通常<10秒(提篮式)或<3分钟(单箱气冷式)

    • 制冷系统:复叠式/双级压缩机制冷(低温型),风冷或水冷

    • 控制器:彩色触摸屏,可编程PLC

    主要功能及特点

    1. 高精度快速温变:采用制冷与加热系统及气流设计,实现高线性速率的温度变化,精确模拟严酷环境。

    2. 专业老化筛选模式:预设多种标准筛选程序(如GJB 1032、MIL-STD-883等),支持自定义复杂温度循环曲线。

    3. 均匀性与稳定性:强风循环系统确保工作室内部温度高度均匀稳定,保证测试条件的一致性。

    4. 高可靠性设计:核心部件(压缩机、风机、传感器)采用国际品牌,确保设备长期连续稳定运行。

    5. 智能安全保护:具备多重安全保护(超温、过流、漏电、压缩机延时等),具备故障自诊断功能。

    6. 人性化操作:大尺寸触摸屏,图形化界面,支持程序编辑、数据存储、USB导出及远程监控功能。

    应用场景
    广泛应用于航空航天、汽车电子、通讯设备、消费电子、半导体封装、新能源等所有对元器件可靠性有苛刻要求的行业。是研发实验室、质量检测中心、生产线老化车间核心测试设备。

    技术特点

    • 加速应力测试:在短时间内施加数倍于自然环境的温度冲击,极大缩短测试周期,提高筛选效率。

    • 无损筛选:在合理的应力范围内,有效暴露缺陷而不损伤良品。

    • 揭示潜在缺陷:特别擅长发现由于不同材料热膨胀系数差异导致的接触不良、开裂、性能漂移等间歇性故障。


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