冷热冲击试验箱，节省空间，功能齐全是一款精心设计的立式三箱式（预冷区、预热区、测试区）冷热冲击试验箱，采用独特的紧凑型结构理念，在保证核心性能的前提下，大幅减少了设备占地面积，特别适合空间有限的实验室或生产线旁安装使用。尽管体积紧凑，但其集成了高温、低温及冲击测试的全部功能，实现了一机多用。

冷热冲击箱，适用于电子元件可靠性测试是一款环境可靠性测试设备，专为模拟电子产品在研发、生产及质量控制中可能遭遇的温度骤变环境而设计。它通过在两独立温区（高温室与低温室）间快速转换测试样品，在极短时间内产生剧烈的温度冲击，从而高效暴露产品因材料不匹配、焊接缺陷、封装问题等引起的潜在故障。

冷热冲击试验箱，用于电子元器件可靠性测试是一款专业用于电子元器件、PCB电路板、芯片封装等产品可靠性测试的高性能环境试验设备。它采用独立的三箱体（高温区、低温区、测试区）结构，通过吊篮快速移动样品，实现极速、精准的温度冲击，以检验产品在温度交替环境下的耐受能力、电气性能和潜在缺陷。

冷热冲击箱，高性价比满足基础测试需求是一款专为满足基础可靠性测试需求而设计的高性价比环境试验设备。它通过模拟产品在高低温环境间快速转换的条件，高效评估其在温度骤变下的耐受能力、材料稳定性及性能可靠性，是提升产品质量、发现潜在缺陷的得力工具。