大型高低温箱 电子元器件可靠性老化测试专为电子元器件批量可靠性老化测试而研制。采用模块化制冷系统与多翼离心送风结构，内箱容积可达千升级别，支持宽温度范围（-70℃～+150℃）精准控制。箱体采用优质不锈钢内胆与高密度保温层，配备大型观察窗及安全保护装置，确保长期连续运行下的稳定性与安全性。

大型高低温箱 电子元器件可靠性老化测试生产厂家广东皓天检测仪器有限公司拥有专业的生产研发技术，一站式周到服务。作为一家专注于试验设备产品的大型仪器制造商，皓天设备致力于为消费者提供技术、品质的优秀产品。

产品详情
本设备为大型高低温环境试验箱，专为电子元器件批量可靠性老化测试而研制。采用模块化制冷系统与多翼离心送风结构，内箱容积可达千升级别，支持宽温度范围（-70℃～+150℃）控制。箱体采用优质不锈钢内胆与高密度保温层，配备大型观察窗及安全保护装置，确保长期连续运行下的稳定性与安全性。

大型高低温箱 电子元器件可靠性老化测试

用途
主要用于模拟电子元器件在高低温及温度变化环境下的存储、工作及耐久性状态，加速暴露产品潜在缺陷（如焊接开裂、参数漂移、绝缘性能下降等），从而评估其是否满足设计寿命及可靠性指标要求，是品质管控与研发验证的核心手段。

技术参数

• 温度范围：-70℃～+150℃（可调）

• 温度波动度：≤±0.5℃

• 温度均匀度：≤±2.0℃（空载条件下）

• 升温速率：平均1.0～3.0℃/min

• 降温速率：平均0.7～1.5℃/min

• 内箱尺寸：可定制（如W1000×H1000×D1000mm及以上）

• 控制器：7英寸彩色触摸屏可程式控制器，支持千段程式编辑

应用场景
广泛应用于电子元器件生产车间、质检中心、研发实验室及第三方检测机构。典型场景包括：晶体管、集成电路（IC）、电容电阻、继电器、连接器等器件在高温存储、低温启动、温度循环老化过程中的批量筛选与失效分析，尤其适用于车规级元器件（AEC-Q100/Q200）的可靠性验证。

技术特点

• 采用平衡调温（BTC）系统，制冷与加热动态耦合，节能且响应迅速

• 独特的风道设计保证大空间内温度场均匀

• 配备多组测试引线孔，便于带电负载及信号在线监测

• 压缩机过载、超温、缺水等多重保护，支持无人值守安全运行

应用领域
主要面向消费电子、汽车电子、航空航天电子、通信设备、医疗电子等行业的元器件供应商及整机制造商。同时适用于研究所、高校电子工程实验室对新型半导体材料及微电子器件的环境适应性研究。

性能特点

• 宽温域覆盖，满足从极寒到酷热的全气候模拟需求

• 长期连续运行稳定性优异，适合72h～1000h以上的长效老化试验

• 低温时蒸发器不结霜，降温效率持久不衰减

• 低噪音运行，箱体密封性良好，符合环保冷媒使用规范

技术优势

• 自主开发温控算法，温度过冲小，到达设定值后快速进入稳态

• 制冷系统采用能量调节技术，部分负载时自动卸载，大幅降低能耗

• 支持与上位机软件通讯，实现远程监控、数据记录及曲线导出

• 内箱无凸起结构，便于样品架多层摆放及清洁维护

满足标准
全面符合以下国内外试验标准：

• GB/T 2423.1（低温）、GB/T 2423.2（高温）、GB/T 2423.22（温度变化）

• IEC 60068-2-1、IEC 60068-2-2、IEC 60068-2-14

• MIL-STD-810G（环境工程相关部分）

• JIS C 60068系列

• 满足AEC-Q100/Q200中温度循环及高温老化测试条件