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产品型号:TSD-225F-2P
厂商性质:生产厂家
更新时间:2026-05-29
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本系列冷热冲击试验箱配备大面积多层中空钢化玻璃观察窗,并内置LED防凝露照明系统,可在-65℃至150℃温度切换过程中清晰观察样品状态。设备采用两箱或三箱结构,可程式触摸屏控制,支持USB与以太网数据导出。
主要用于电子、汽车、航天、新能源、塑料、金属等行业,测试材料或产品在瞬间高温与低温反复冲击下的物理与化学稳定性,评估其耐热、耐寒及抗疲劳性能,筛选早期失效产品。
温度范围:-65℃~+150℃(可定制-80℃)
高温区升温时间:RT→150℃≤25分钟
低温区降温时间:RT→-65℃≤60分钟
温度恢复时间:≤5分钟
转换时间:≤10秒
温度波动度:≤±0.5℃
温度偏差:≤±2.0℃
内箱材质:SUS304不锈钢
观察窗尺寸:300×400 mm(可选更大)
控制器:7寸触摸屏,可编程1000段以上
外壳:冷轧钢板静电喷涂,耐腐蚀抗老化
内胆:SUS304镜面不锈钢,圆角设计无卫生死角
保温层:高密度聚氨酯+玻璃纤维复合,厚度100mm
观察窗:三层真空钢化玻璃,带导电膜自动防凝露
门密封:硅橡胶双唇密封条,耐高低温不变形
样品架:不锈钢冲孔搁板,可调节间距
通过独立的高温区与低温区预先储能。测试时,由气动或电动提篮/风门将样品快速移至高温区或低温区,或通过风道切换导入冷热气流,使样品表面在数秒内承受剧烈温差。控制器根据设定循环次数(如-40℃→85℃→-40℃)自动控制各区阀门与风机启停,实现连续冲击。
GB/T 2423.22(IEC 60068-2-14) 温度变化试验
GJB 150.5A 温度冲击试验
JESD22-A106-B 半导体温度循环
MIL-STD-810H 环境工程相关部分
车规 AEC-Q100 / Q200 温度冲击要求
消费电子:手机、电脑、PCB板
汽车电子:ECU、传感器、车灯
新能源:动力电池模组、储能包
航空航天:航电设备、连接器
塑胶与金属:涂层、密封件、焊点







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