三箱式冷热冲击试验箱，温度快速循环由高温储存区、低温储存区与测试区三部分组成，通过风门快速切换实现温度冲击，避免吊篮移动带来的机械振动与样品位移。该设备专用于检测材料与电子元器件在极短时间温度剧烈变化下的耐受能力，适用于研发、质量与可靠性实验室。

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产品详情

三箱式冷热冲击试验箱由高温储存区、低温储存区与测试区三部分组成，通过风门快速切换实现温度冲击，避免吊篮移动带来的机械振动与样品位移。该设备专用于检测材料与电子元器件在极短时间温度剧烈变化下的耐受能力，适用于研发、质量与可靠性实验室。

三箱式冷热冲击试验箱，温度快速循环

用途

主要用于半导体芯片、PCB板、汽车电子、锂电池、LED、5G通信模块、航空航天部件等。可模拟产品在实际使用中遇到的突然温度变化（如严寒环境进入高温工作区），评估其热应力下的开裂、脱落、性能漂移或失效风险。

技术参数

• 高温范围：+60℃ ～ +200℃

• 低温范围：-70℃ ～ 0℃

• 冲击恢复时间：≤5分钟

• 温度转换时间：≤10秒

• 温度均匀度：≤±2℃

• 温度波动度：≤±0.5℃

• 内箱材质：SUS304不锈钢

• 外箱材质：冷轧钢板静电喷塑

• 控制器：7英寸触摸屏可编程

箱体结构与材质

三箱独立隔热处理，中间测试区采用双层不锈钢与高密度聚氨酯发泡保温层，高温区与低温区分别配置镍铬合金加热管与全封闭压缩机制冷系统。各区之间设置耐高温密封风门，由伺服电机快速驱动，避免冷热串扰。箱门带双层中空钢化玻璃观察窗及防凝露加热膜。

工作原理

测试样品放置于静止的中间测试区。试验时，控制系统先使高温区与低温区分别达到设定值。需高温冲击时，打开高温区风门，由循环风机将热空气快速吹入测试区；需低温冲击时，关闭高温风门并打开低温区风门，引入冷空气。测试区本身不加热制冷，仅通过风门切换实现温度快速循环。

性能特点

• 无机械冲击：样品静止，避免吊篮运动导致线束断裂或样品倾倒

• 转换速度快：风门切换时间≤10秒，真实模拟瞬态温变

• 可编程运行：支持多段温度、循环次数、驻留时间设定

• 保护齐全：过温、过压、缺相、压缩机延时等多重保护

技术优势

相比两箱式，三箱式可同时预热与预冷，连续冲击不停机，测试效率更高；样品不受机械振动影响，适合精密或接线产品；风门密封优异，长期运行无冰堵，温度恢复一致性更好。

满足标准

• GB/T 2423.22（环境试验 温度变化）

• IEC 60068-2-14（基本环境试验规程）

• JESD22-A106（半导体温度循环）

• MIL-STD-883（微电子器件）