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产品型号:WTH-A
厂商性质:生产厂家
更新时间:2026-07-02
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大型步入式恒温恒湿试验箱专为半导体行业大尺寸、高功率器件测试设计,采用模块化拼装结构,内腔容积可达数立方米至数十立方米,可容纳整机机柜或晶圆载具。箱体采用高强度不锈钢内胆与高效保温层,配备观察窗,搭载独立温区控制系统,支持长期稳定运行。
主要用于半导体芯片、功率模块、车规级电子组件在温湿度环境下的可靠性验证,评估产品在储存、运输及工作状态下的耐候性与失效模式,为研发定型与量产抽检提供数据支撑。
温度范围:-70℃~+180℃(可调)
湿度范围:10% RH~98% RH(可调)
温度波动度:≤±0.5℃
温度均匀度:≤±2.0℃(空载)
湿度偏差:≤±3.0% RH
升降温速率:1℃/min~5℃/min(线性/非线性可设)
内箱尺寸:可定制(宽×深×高,如2m×3m×2.5m)
制冷方式:复叠式压缩机制冷(环保冷媒)
控制系统:7寸触摸屏PLC控制器,支持PC远程监控与数据导出
采用多路PID分区控温算法,配合高精度铂电阻传感器,确保大空间内温场均匀。
防凝露密封门框与中空电热玻璃视窗,避免低温测试时观察窗起雾。
配备超温、缺相、过载、压缩机高压等多重保护,支持故障自诊断报警。
制冷系统采用能量调节技术,节能约30%,长期运行可靠性高。
满足IEC 60749、JESD22-A104、GB/T 2423.1/2/3、MIL-STD-810G、GJB 150A等国际国内环境试验标准,可执行高温、低温、湿热交变及恒定湿热测试。
车规级IGBT模块在高低温循环下的功率循环测试
5G基站芯片在高温高湿环境下的长期老化试验
晶圆级封装件在温度冲击前后的电性能对比验证
大型服务器主板在湿热应力下的绝缘阻抗监测





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