冷热冲击试验箱USB数据导出采用触摸屏PLC控制系统，支持温度冲击曲线实时显示与历史数据U盘导出，无需连接电脑即可完成测试记录转存。设备具备自动除霜、超温保护、断电记忆、故障自诊断等智能功能，适用于电子、汽车、新能源等领域的产品高低温冲击测试。

冷热冲击试验箱USB数据导出

产品详情

本设备为两箱/三箱式冷热冲击试验箱，标配USB数据导出接口。采用触摸屏PLC控制系统，支持温度冲击曲线实时显示与历史数据U盘导出，无需连接电脑即可完成测试记录转存。设备具备自动除霜、超温保护、断电记忆、故障自诊断等智能功能，适用于电子、汽车、新能源等领域的产品高低温冲击测试。

冷热冲击试验箱USB数据导出

用途

用于验证材料或产品在极短时间内承受剧烈温度变化（高温至低温或低温至高温）的能力。通过反复冲击，暴露产品在热胀冷缩下产生的开裂、脱落、电气性能不稳、密封失效等潜在缺陷，提升产品可靠性。

技术参数

• 温度范围：高温箱 +60℃ ～ +150℃，低温箱 -65℃ ～ 0℃

• 冲击恢复时间：≤5分钟（负载条件下）

• 温度波动度：≤±0.5℃

• 温度偏差：≤±2℃

• 冲击方式：气动吊篮移动式或风门切换式

• 数据接口：USB 2.0，支持FAT32格式U盘导出CSV/TXT曲线及报警记录

• 内箱容积：50L、80L、150L、225L、500L等可选

• 电源：380V±10%，三相五线制

箱体结构与材质

• 外壳：冷轧钢板静电喷塑，耐腐蚀、易清洁

• 内胆：SUS304不锈钢，无焊缝设计，耐高低温冲击不锈蚀

• 保温层：高密度聚氨酯+玻璃纤维复合保温，厚度≥100mm，有效防止冷桥

• 门体：双层硅橡胶密封条+防爆式观察窗（中空钢化玻璃）

• 测试孔：Φ50mm或Φ100mm，带硅胶塞，方便外部传感器布线

• 移动机构：气动驱动吊篮/隔板，高强度铝合金导向，噪声低、冲击平稳

满足标准

• GB/T 2423.22（IEC 60068-2-14）温度变化试验方法

• GJB 150.5A 装备温度冲击试验

• JESD22-A104 电子器件温度循环

• GB/T 10590 高低温试验箱技术条件

• MIL-STD-883G 微电子器件冲击测试

• QC/T 417 车用连接器温度冲击

应用场景

• PCB板与PCBA组件冷热冲击后焊接可靠性验证

• LED封装及模块低温开裂与高温硫化测试

• 锂电池芯与电池包极低温启动性能及热管理验证

• 汽车传感器、连接器、控制器的快速温变现场模拟

• 通信设备、航空电子设备的环境应力筛选

• 塑料、橡胶、密封件在-40℃至125℃冲击下的老化与变形检测

适用行业

• 电子元器件制造

• 汽车零部件与整车研发

• 新能源（锂电、光伏）

• 第三方检测与认证机构