HAST加速老化试验箱

发布时间：2026-01-12

浏览次数：23

产品介绍

HAST（高压加速寿命试验）加速老化试验箱是一款专为电子元器件、半导体芯片、光伏组件及新材料研发领域设计的高效可靠性测试设备。该设备通过模拟高温、高湿、高压的环境，在短时间内加速产品老化过程，精准评估产品的长期稳定性和使用寿命，为客户大幅缩短研发周期、提升产品质量提供关键技术支撑。

高效加速测试能力
采用高压饱和蒸汽原理，在高142.9℃、0.36MPa的严苛条件下，实现比传统恒温恒湿试验箱快数倍乃至数十倍的老化加速效果。用户仅需数小时至数天即可获得相当于常规环境下数月甚至数年的老化数据，显著提升测试效率。

精密环境控制系统
配备智能微电脑控制器，实现温度、湿度、压力的独立精确控制。温度波动度可稳定在±0.5℃以内，湿度偏差不超过±2%RH，确保测试条件的一致性与可重复性，满足各类国际标准测试要求（如JESD22-A110、JIS C60068等）。

安全可靠的设计结构
内胆采用优质SUS316不锈钢，具备耐腐蚀性能。多层安全防护机制包括超温保护、压力安全阀、漏电断路装置及水位异常警报，确保设备长时间稳定运行。可视化观察窗与外部接线端口设计，方便用户实时监测试验过程。

人性化智能操作界面
彩色触摸屏界面直观友好，支持多组程序编辑与存储，可设定复杂温湿压曲线。配备USB数据导出功能，便于测试结果的记录与分析，大幅降低操作人员的技术门槛。

本设备广泛应用于半导体封装测试、LED光电产品寿命评估、新能源电池材料稳定性验证、汽车电子耐久性测试、航空航天元器件筛选及高分子材料耐候性研究等领域，是研发实验室与质量控制部门核心装备。

HAST加速老化试验箱以其加速性能、精准的环境控制和全面的安全保障，成为企业提升产品可靠性、缩短上市时间的理想选择，助您在市场竞争中赢得先机。