HAST加速老化箱 为半导体器件老化试验护航是专为半导体、集成电路及电子元器件设计的高可靠性环境试验设备。它通过创造高温、高湿、高压的加速环境，在短时间内模拟并验证产品在长期自然使用下的耐候性与可靠性，为产品的质量与寿命评估提供关键数据支持，是研发、品控及质量认证中核心装备。

HAST加速老化箱 为半导体器件老化试验护航生产厂家广东皓天检测仪器有限公司拥有专业的生产研发技术，一站式周到服务。作为一家专注于试验设备产品的大型仪器制造商，皓天设备致力于为消费者提供技术、品质的优秀产品。

产品概述
HAST（高压加速老化试验箱）是专为半导体、集成电路及电子元器件设计的高可靠性环境试验设备。它通过创造高温、高湿、高压的加速环境，在短时间内模拟并验证产品在长期自然使用下的耐候性与可靠性，为产品的质量与寿命评估提供关键数据支持，是研发、品控及质量认证中核心装备。

主要用途

• 半导体器件可靠性评估：加速评估IC封装、晶圆、芯片的防潮性能、金属化层腐蚀、封装树脂水解等失效模式。

• 电子元件寿命测试：对电容器、电阻、连接器、模块电源等进行加速寿命试验。

• 材料耐候性研究：测试塑料、涂层、粘合剂、密封胶等在高温高湿环境下的性能退化。

• 行业合规性验证：帮助产品满足JESD22-A110、JESD22-A118、MIL-STD等国际可靠性测试标准，是进入汽车电子、航空航天等领域的测试环节。

HAST加速老化箱 为半导体器件老化试验护航

技术参数

• 温度范围：105℃ ~ 150℃（可扩展）

• 湿度范围：75% RH ~ 100% RH（非饱和/饱和蒸汽）

• 压力范围：0.02 MPa ~ 0.3 MPa

• 控制精度：温度±0.5℃，湿度±2.5% RH

• 内箱容积：标准50L/100L，可定制

• 升温时间：室温→130℃ ≤ 40分钟（仅箱体）

• 安全装置：超温保护、超压保护、缺水保护、漏电保护等

箱体结构与材质
箱体采用高品质 SUS304 不锈钢，内胆为耐腐蚀镜面不锈钢板，外壁为钢板静电喷塑，结构坚固耐用。门体配备双层硅橡胶密封条和高强度门锁，确保高压下的密封性。核心部件包括：

• 加压系统：采用进口高压泵与精密压力控制器。

• 加湿系统：锅炉蒸汽加湿方式，反应迅速，控制精确。

• 加热系统：镍铬合金翅片式加热器，配合强制循环风机，温场均匀。

• 控制系统：高精度微电脑触摸屏控制器，可编程多段压力/温度/湿度曲线。

使用注意事项

1. 安全操作：试验前确保箱门紧闭锁好，压力释放后方可开门。

2. 样品放置：被测样品不得阻挡风道，需均匀放置，负载总量不超过内箱容积的2/3。

3. 介质要求：必须使用去离子水或蒸馏水，防止水垢及杂质影响传感器和加湿器。

4. 定期维护：定期检查密封条、清理水垢、校准传感器，确保设备长期稳定运行。

5. 环境要求：设备应置于通风良好、无震动的水平场地，远离易燃易爆物品。

亮点与优势

1. 高效加速，缩短周期：可在几十至数百小时内模拟出常温常压下数年才能产生的湿热老化效应，极大缩短研发与验证周期。

2. 控制精准，数据可靠：采用高精度传感器与控制算法，确保温湿度压力的长期稳定与均匀性，试验结果重复性与可比性高。

3. 坚固耐用，安全至上：材料与结构设计，配合多重电气与机械安全联锁保护，保障长时间高压高湿环境下的运行安全与设备寿命。