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产品型号:HT-100NM
厂商性质:生产厂家
更新时间:2026-01-05
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本产品是专为半导体芯片、集成电路(IC)、晶圆、高级封装模块及精密电子元件设计的专业级环境可靠性测试设备。它通过精确模拟产品在公路、铁路、空运及海运等复杂运输过程中所经历的各种振动环境,有效评估其结构强度、焊接可靠性、内部连接完整性及疲劳寿命,是保障芯片产品出厂质量与运输安全的关键测试工具。
设备基于电磁感应原理(法拉第定律)工作。其核心是位于高强度磁场中的动圈(励磁线圈)。当功率放大器将控制系统生成的驱动信号(正弦波、随机波或冲击波形)电流输入动圈时,动圈在磁场中受到洛伦兹力的作用,从而产生精确的往复直线运动。该运动通过扩展台面直接传递至被测芯片样品,实现对真实运输振动的实验室复现。
设备主要由以下几大系统构成:
振动台本体:包括台体、高磁通密度的永磁或励磁磁路、驱动动圈。
功率放大器:将低功率控制信号放大为驱动动圈所需的大电流。
数字控制系统:核心控制单元,具备信号生成、数据采集、闭环控制与安全保护功能。
冷却系统:通常为强制风冷或水冷,用于消散动圈与功放工作产生的热量。
测试台面与夹具:专为芯片托盘、JEDEC标准载具或定制PCB测试板设计的低质量、高刚性夹具,确保振动传递精准无误。
精密模拟:可执行正弦定频/扫频、随机振动(PSD谱)、典型冲击波形(半正弦、后峰锯齿波)测试。
高保真度:宽频率范围(通常5Hz-3000Hz或更高),极低的台面失真和横向运动比,确保测试准确性。
智能控制:全数字闭环控制,具备谱线实时均衡、量级监控、自动中断保护功能。
高适应性:配套多样化的芯片专用夹具,支持从单颗芯片到整盘晶圆的批量测试。
标准兼容:严格遵循JEDEC(如JESD22-B103B)、MIL-STD-883、ISO 13355、ASTM D999等国际标准。
高频响与低失真:针对芯片微小结构共振点检测,高频特性优异,波形控制精确。
高加速度能力:可产生高达100g以上的加速度,满足严苛的运输条件模拟。
优异的信噪比与运行平稳性:确保在测试微小、高灵敏度芯片时背景噪声干扰最小。
智能化与安全性:内置故障诊断、过位移、过温、过电流等多重保护,保障贵重芯片样品安全。
频率范围:DC - 5 Hz ~ 3000 Hz
加速度:100 g(空载)
速度:1.8 m/s
位移:±25 mm(峰值)
台面尺寸:定制(如Φ100mm,或方形适配芯片托盘)
负载能力:1 kg ~ 5 kg(典型)
控制方式:全数字闭环,四通道控制
振动方向:垂直(或水平滑台可选)
芯片封装测试:评估锡球(BGA)、焊线(Wire Bond)、芯片贴装(Die Attach)的机械可靠性。
运输包装验证:测试芯片的托盘、管状包装、防静电泡沫的抗振性能。
失效分析:再现运输后芯片的故障模式,定位结构薄弱点。
工艺质量鉴定:对比不同生产工艺下芯片的抗振能力。
研发阶段验证:在新产品设计阶段进行可靠性摸底测试。





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