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产品型号:TSD-150F-2P
厂商性质:生产厂家
更新时间:2025-12-23
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本冷热冲击试验箱是一款专为高强度、高频率实验室环境设计的精密可靠性测试设备。它采用高可靠性的核心部件和坚固的箱体结构,能够模拟产品在极短时间内承受高低温切换的环境应力,从而快速发现产品在材料、工艺上的潜在缺陷,是提升产品可靠性、缩短研发周期的关键设备。
广泛应用于电子元器件、汽车零部件、航空航天产品、新材料、LED、芯片、PCB板、通讯设备等领域,用于测试产品在温度剧烈变化环境下的耐受性能、热胀冷缩效应以及结构完整性。
温度范围:高温箱:+60℃ ~ +150℃(可扩展);低温箱:-10℃ ~ -55℃(可扩展至-65℃或更低)
温度转换时间:≤10秒(试样区域温度恢复时间,满足标准要求)
温度稳定性:±0.5℃
温度均匀度:±2.0℃
预热/预冷时间:高温箱从常温升至+150℃ ≤30分钟;低温箱从常温降至-55℃ ≤60分钟
内箱尺寸:可根据需求定制(标准如50L、100L等)
冲击方式:两箱式(提篮移动)或三箱式(风门切换),满足不同测试需求
外箱材质:优质A3钢板,表面经防锈处理,并喷涂高强度汽车漆或静电喷塑,耐磨抗腐蚀。
内箱材质:采用SUS304#不锈钢镜面板,耐高温、耐腐蚀、易清洁,确保长期使用不生锈。
保温层:高密度聚氨酯硬质发泡+超细玻璃棉,保温性,有效减少热量损失,降低能耗。
密封:双层硅橡胶高低温密封条,确保箱体在高低温冲击下仍保持优异的气密性。
加强结构:箱体框架采用加强型钣金结构,关键受力部位进行加固,确保提篮频繁移动或长期运行时机身稳固不变形。
设备分为高温箱、低温箱和测试区(提篮)。测试时,待测样品置于提篮中。根据预设程序,提篮在伺服电机驱动下,于高温区和低温区之间快速、平稳移动,使样品在瞬间(通常10秒内)暴露于截然不同的温度环境中,实现温度的剧烈冲击,从而考核产品的耐受极限。
设备设计符合并满足以下主要国际、国家及行业标准:GB/T 2423.1、GB/T 2423.2、GJB 150.5、IEC 60068-2-1、IEC 60068-2-2、MIL-STD-202F、MIL-STD-810F等。
样品摆放:样品应合理摆放,确保测试区内空气流通,避免遮挡风道,影响温度均匀性。
负载限制:严格遵守设备负载要求,不得超载运行,以免损坏提篮传动机构。
定期维护:定期检查压缩机、冷凝器、运动部件,并清洁过滤器,确保设备处于状态。
安全操作:高温或低温测试结束后,需等待箱内温度恢复至接近室温后再打开箱门,防止烫伤/冻伤或凝露。
电源稳定:确保配备专用且稳定的电源线路,避免电压波动影响设备寿命。





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