冷热冲击箱，适用于电子元件可靠性测试是一款环境可靠性测试设备，专为模拟电子产品在研发、生产及质量控制中可能遭遇的温度骤变环境而设计。它通过在两独立温区（高温室与低温室）间快速转换测试样品，在极短时间内产生剧烈的温度冲击，从而高效暴露产品因材料不匹配、焊接缺陷、封装问题等引起的潜在故障。

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产品详情

本冷热冲击箱是一款环境可靠性测试设备，专为模拟电子产品在研发、生产及质量控制中可能遭遇的温度骤变环境而设计。它通过在两独立温区（高温室与低温室）间快速转换测试样品，在极短时间内产生剧烈的温度冲击，从而高效暴露产品因材料不匹配、焊接缺陷、封装问题等引起的潜在故障。

冷热冲击箱，适用于电子元件可靠性测试

主要用途

主要用于电子元器件、PCB电路板、通讯模块、汽车电子、航空航天电子设备、芯片及半导体封装、LED照明等产品的可靠性筛选与质量验证。其核心作用是评估产品在温度快速交变条件下的物理性能、电气性能及长期耐久性。

工作原理

设备采用两箱式（吊篮式）结构。测试时，样品置于提篮中，根据预设程序，提篮在高温室和低温室之间进行高速机械运动，实现样品的快速转移。样品在转换过程中直接暴露于目标温度的环境中，从而达到温度变化速率快、恢复时间短的冲击效果，精确模拟实际使用或运输中遇到的瞬时温差。

箱体结构与材质

• 外箱体：采用优质A3钢板，表面经防锈处理及静电喷涂，外观坚固耐用。

• 内箱体：采用SUS304高级不锈钢板，耐腐蚀、抗氧化，确保长期高温高湿测试环境下的稳定性。

• 保温层：高强度聚氨酯发泡保温材料，确保优异的隔热性能，节能且保证测试区温度稳定。

• 转换机构：精密设计的提篮与气缸（或电机）驱动系统，运行平稳、定位精准、转换时间短。

主要技术参数

• 温度范围：高温区：+60℃ ~ +150℃（可扩展）；低温区：-10℃ ~ -55℃（或更低）

• 冲击恢复时间：高温到低温/低温到高温，通常在5分钟内达到设定温度（依标准而定）。

• 转换时间：≤10秒（样品从一箱移动到另一箱的时间等标准有严格要求）。

• 温度波动度：≤±0.5℃

• 温度均匀度：≤±2.0℃

• 内箱尺寸：可根据需求定制（如 40L， 60L， 100L等）

满足标准

设备设计符合并满足以下国际、国家及行业标准：

• GJB 150.5A-2009（装备实验室环境试验方法 温度冲击试验）

• IEC 60068-2-14（国际电工委员会标准）

• GB/T 2423.22（环境试验 第2部分：试验方法 试验N：温度变化）

• MIL-STD-883（微电子器件试验方法标准）

• JESD22-A104（温度循环）等相关测试要求。

设备亮点

1. 高效精准：极快的温度转换与恢复能力，大幅缩短测试周期，提高效率。

2. 独立双箱：高温区与低温区独立控温，避免了传统单箱式设备的温度干扰和等待时间。

3. 智能控制：采用彩色触摸屏+PLC控制器，界面友好，编程灵活，可存储多组程序，实时显示曲线与数据。

4. 安全可靠：具备多重安全保护（超温保护、漏电保护、过载保护、样品保护等）及故障自诊断功能。

5. 高复现性：精准的温控与稳定的机械动作，确保每次测试条件一致，结果可靠可比。

使用注意事项

1. 样品要求：待测样品应为干燥、清洁的完整体，确保在测试过程中不会产生挥发性物质或爆炸危险。

2. 装载规范：样品应合理摆放于样品架，确保空气流通通畅，不堵塞风道，样品间需留有空隙。

3. 定期维护：定期检查制冷系统压缩机、更换干燥过滤器、清洁冷凝器及箱体密封条，确保设备长期稳定运行。

4. 安全操作：高温或低温测试结束时，需等待箱内温度恢复至接近室温后再开门取件，防止烫伤/冻伤或凝露。