冷热冲击试验箱，用于电子元器件可靠性测试是一款专业用于电子元器件、PCB电路板、芯片封装等产品可靠性测试的高性能环境试验设备。它采用独立的三箱体（高温区、低温区、测试区）结构，通过吊篮快速移动样品，实现极速、精准的温度冲击，以检验产品在温度交替环境下的耐受能力、电气性能和潜在缺陷。

冷热冲击试验箱，用于电子元器件可靠性测试生产厂家广东皓天检测仪器有限公司拥有专业的生产研发技术，一站式周到服务。作为一家专注于试验设备产品的大型仪器制造商，皓天设备致力于为消费者提供技术、品质的优秀产品。

产品详情

本设备是一款专业用于电子元器件、PCB电路板、芯片封装等产品可靠性测试的高性能环境试验设备。它采用独立的三箱体（高温区、低温区、测试区）结构，通过吊篮快速移动样品，实现极速、精准的温度冲击，以检验产品在温度交替环境下的耐受能力、电气性能和潜在缺陷。

冷热冲击试验箱，用于电子元器件可靠性测试

用于评估电子电工产品、材料、元件及组件在瞬间经历高温和低温交替变化时的适应性和可靠性。通过模拟严苛的温度冲击环境，可在短时间内发现产品因材料膨胀系数不匹配、焊接瑕疵、封装裂纹等导致的早期失效，是提升产品品质、缩短研发周期、进行质量验证和准入认证（如汽车、航空）的关键测试手段。

技术参数

• 温度范围：高温区：+60℃ ~ +200℃；低温区：-10℃ ~ -65℃（或-80℃）

• 温度转换时间： ≤ 10秒（样品从高温区到低温区，或反之）

• 温度恢复时间： ≤ 5分钟（测试区温度恢复至设定值）

• 内箱尺寸： 可根据需求定制（如 40×40×40cm, 50×50×50cm）

• 控制系统： 7英寸彩色触摸屏，可编程控制器（PLC）

• 满足标准： GB/T 2423.22, IEC 60068-2-14, GJB 150.5 等

基本结构

1. 箱体结构：分为前部的测试区（工作室），以及后部上下的高温蓄热区和低温蓄冷区，共三个独立腔室。

2. 移动吊篮：用于承载测试样品，通过气动或电动驱动，在高温区和低温区之间快速、平稳移动。

3. 制冷系统：采用复叠式或双级压缩机制冷，确保低温区快速降温及稳定。

4. 加热系统：采用镍铬合金电加热器，配合强制风循环，实现高温区快速升温。

5. 控制系统：集成于箱体前部，包含人机界面、程序编辑器、数据记录仪等。

工作原理

设备预先将高温区和低温区分别加热和冷却并保持稳定。测试开始时，载有样品的吊篮位于高温区（或低温区）进行预热/预冷。到达设定时间后，吊篮迅速移动到低温区（或高温区），使样品在极短时间内暴露于相反温度环境中。此过程循环进行，模拟温度急剧变化带来的热应力冲击。

应用场景

• 研发阶段：新材料、新结构、新工艺的可靠性摸底试验。

• 质量抽检：生产线上的产品批次抽样测试。

• 失效分析：对退货或失效产品进行原因复现与排查。

• 认证测试：为产品上市或进入特定行业（如汽车电子）提供符合性测试报告。

技术特点

1. 高转换速率：独特的三箱体设计与快速传动机构，实现秒级温度冲击。

2. 高温度稳定性：各区独立控温，样品移动时对温区干扰小，温度波动度小。

3. 测试效率高：相比传统的高低温箱，能以更短时间激发产品潜在缺陷。

4. 操作智能化：可存储多组测试程序，自动运行，实时记录温度曲线与数据。

5. 安全可靠：具备样品超温、风机过热、电源缺相等多重安全保护。

应用领域

广泛应用于航空航天、汽车电子、半导体芯片、通信设备、新能源电池、光电元件、精密仪器等行业，是所有对产品质量与长期可靠性有严苛要求领域的测试设备。