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产品型号:HT-100NM
厂商性质:生产厂家
更新时间:2025-12-10
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本装置是一款专为半导体行业设计的高精度、高可靠性环境模拟测试设备。它采用电磁驱动技术,可精确复现产品在运输、安装及使用过程中所遇到的各种振动环境,用于评估半导体器件、集成电路(IC)、晶圆、封装模块及精密电子元器件的机械结构强度、焊接可靠性与性能稳定性。设备集成了智能控制系统与安全保护机制,确保测试过程精准、高效、安全。
可靠性验证:发现半导体产品的潜在设计缺陷与工艺弱点,如芯片开裂、焊点疲劳、引线断裂、密封失效等。
质量筛选:通过施加特定应力,剔除早期失效产品,提高出厂产品的批次可靠性。
寿命评估:模拟长期振动应力,评估产品的疲劳寿命与耐久性。
符合性测试:验证产品是否符合国内外行业标准与客户规定的抗振要求。



频率范围:1 Hz ~ 3000 Hz(或更高)
推力:根据型号,从几百N到数十kN可选
加速度:可达1000 m/s²(约100g)以上
位移:±25 mm ~ ±51 mm
台面尺寸:标准或定制,满足从晶圆到整盘IC的测试需求
振动模式:正弦(扫频、定频)、随机、经典冲击波形
控制系统:全数字闭环控制,具备波形实时监控与谱分析功能
台体:包含高强度台面、动圈、励磁线圈及永磁体(或电磁铁)系统。
功率放大器:将控制信号放大以驱动动圈,通常为独立机柜。
数字控制器:核心控制单元,执行测试程序、进行信号分析与闭环调节。
冷却系统:风冷或水冷,用于消散台体与功放运行中产生的热量。
安全防护:紧急停止按钮、位移过载保护、门锁联锁等。
传感器:高精度加速度计,用于反馈实际振动信号。
基于“载流导体在磁场中受力"的电磁感应定律。当控制器生成所需的驱动信号(正弦、随机波形)并经功率放大器放大后,电流通入置于强磁场(由永磁体或直流励磁线圈产生)中的动圈。动圈在安培力作用下产生精确的往复运动,带动与之刚性连接的台面及台上试件一同振动。安装在台面上的加速度计实时采集振动响应信号并反馈给控制器,形成闭环控制,确保台面振动严格符合设定的试验条件。


国际/行业标准:MIL-STD-883(微电子器件)、MIL-STD-202、JESD22-B103B、IEC 60068-2-6(正弦)、IEC 60068-2-64(随机)。
企业标准:各大半导体制造商(如Intel、AMD、TI等)的内部可靠性测试规范。
运输标准:ISTA, ASTM D999等。
半导体制造与封装厂:对晶圆、封装前后的芯片进行工艺可靠性测试。
集成电路设计公司:验证新芯片封装结构的机械鲁棒性。
航空航天与电子:测试用于苛刻振动环境的抗辐射芯片、高可靠模块。
汽车电子供应商:验证车规级芯片(如MCU、传感器、功率器件)的抗振性能。
科研机构与质检单位:进行前沿材料(如第三代半导体)的力学特性研究与标准符合性认证。

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