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产品型号:TSD-480F-3P
厂商性质:生产厂家
更新时间:2025-11-29
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三箱式冷热冲击试验箱是专为测试产品在瞬间经受高温和极低温环境变化下的耐受能力而设计的可靠性测试设备。它通过将测试样品在高温箱、低温箱和测试箱之间快速转换,模拟严苛的温度冲击环境,广泛应用于电子元器件,特别是PCB电路板的品质验证。
设备分为高温区、低温区和测试区(样品区)。测试开始时,待测PCB板位于测试区。根据预设程序,吊篮会快速将样品移动至高温区进行高温暴露,持续一段时间后,再迅速返回测试区或直接切换至低温区进行低温暴露,如此循环。这种结构实现了温度的急剧变化,同时避免了高低温区的直接相互干扰,温度恢复快,冲击效率高。




高效节能:三箱隔离设计,避免了冷热量的直接对冲,相比两箱式更节能,且温度恢复时间极短。
测试无损:样品在测试区内静止不动,通过气流切换或吊篮移动进行温冲,避免了因机械运动对精密PCB板及焊点造成额外应力损伤。
温变迅捷:可在10秒内(依据标准不同)完成高温到低温的转换,提供剧烈的温度冲击效果。
精准控制:采用PLC触摸屏控制系统,精度高,运行稳定,可精确控制暴露时间和温度斜率。
长久耐用:核心压缩机及关键电器元件采用国际品牌,内胆采用优质不锈钢,确保设备长期稳定运行。
温度范围:高温区:+60℃ ~ +200℃;低温区:-10℃ ~ -65℃(或按需定制)
测试区温度:高温:+60℃ ~ +150℃;低温:-10℃ ~ -55℃
转换时间:<10秒(高温→低温,或低温→高温,依据测试标准)
温度波动度:≤±0.5℃
温度偏差:≤±2.0℃
预热/预冷时间:高温箱从常温至+150℃约30分钟;低温箱从常温至-55℃约60分钟



本设备严格遵循多项国际与国家测试标准,主要包括:
GB/T 2423.22
IEC 60068-2-14
MIL-STD-883
MIL-STD-202
JESD22-A104
EIA-364-32
以及各大汽车、通讯企业的内部测试规范。
核心应用:PCB电路板、PCBA组装板、集成电路(IC)、芯片、半导体元件、光电模块等的可靠性测试。
行业领域:航空航天、汽车电子(车规级芯片与控制器)、通信设备、消费类电子产品(手机、电脑)的研发与质量管控环节。
测试目的:用于评估材料、焊点、镀通孔(PTH)

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