冷热冲击试验箱 用于电子元件质量检测是用于测试电子元器件、组件及整机在瞬间经受高温度和极低温转换的环境下的耐受能力。它通过模拟严苛的温度骤变条件，快速发现产品的潜在缺陷，是提升电子元件质量与可靠性的关键检测设备。

冷热冲击试验箱 用于电子元件质量检测

产品概述
冷热冲击试验箱，又名温度冲击试验箱或热冲击试验箱，是用于测试电子元器件、组件及整机在瞬间经受高温度和极低温转换的环境下的耐受能力。它通过模拟严苛的温度骤变条件，快速发现产品的潜在缺陷，是提升电子元件质量与可靠性的关键检测设备。

一、 设备亮点与优势

• 高效节能： 采用高效的制冷机组和加热器，以及优化的气流设计，在保证性能的同时降低能耗。

• 稳定可靠： 关键元器件（如压缩机、控制器）均采用国际品牌，确保设备长期稳定运行，故障率低。

• 安全智能： 具备多重安全保护功能（超温保护、过载保护、故障报警等），确保操作人员与测试样品的安全。

• 人性化设计： 大型触摸屏人机界面，操作直观简便；具备USB数据导出功能，便于测试数据记录与分析。

冷热冲击试验箱 用于电子元件质量检测

二、 工作原理

该设备主要采用三箱式（预冷区、预热区、测试区） 结构。测试样品放置于测试区（吊篮）中。工作时，通过驱动机构，将测试区在高温箱和低温箱之间进行快速切换，使样品在极短时间内暴露于截然不同的温度环境中，实现剧烈的温度冲击效果。

三、 技术参数（典型值）

• 温度范围： 高温区：+60℃ ~ +150℃；低温区：-10℃ ~ -55℃

• 转换时间： < 10秒（从高温到低温或反之，样品实测）

• 温度恢复时间： < 5分钟（恢复至设定温度）

• 预热区升温速率： 约3~5℃/分钟

• 预冷区降温速率： 约0.7~1.2℃/分钟

• 内箱尺寸： 可根据需求定制（如 40cm x 40cm x 40cm）

四、 满足标准

本设备严格遵循并满足多项国际及国家标准，包括但不限于：

• IEC 60068-2-14

• MIL-STD-883 （美军标）

• MIL-STD-202 （美军标）

• JESD22-A104 （JEDEC标准）

• GB/T 2423.22

五、 主要用途与应用领域

• 主要用途： 用于检测电子元件（如芯片、电阻、电容、PCB板、IC、连接器等）在温度剧烈变化下的性能稳定性、结构缺陷、材料不匹配等。

• 应用领域：

• 半导体行业： 芯片封装测试。

• 汽车电子： 发动机控制器、传感器等关键部件。

• 航空航天： 机载电子设备的可靠性筛选。

• 通信设备： 5G模块、基站元器件。

• 消费电子： 手机、笔记本电脑核心部件。

六、 注意事项

1. 样品放置： 测试样品应合理摆放，确保测试区内空气流通，避免遮挡风道。

2. 易燃易爆品： 严禁将易燃、易爆及易挥发性物品放入箱内测试。

3. 定期检查： 定期检查设备电源、压缩机和传动机构，确保运行正常。

4. 安全操作： 测试过程中，除非必要，请勿打开箱门，以防烫伤或冻伤，并避免温度波动影响测试结果。