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产品型号:TSD-150F-2P
厂商性质:生产厂家
更新时间:2025-11-05
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冷热冲击设备,是一种用于模拟高低温瞬时变化的环境可靠性测试设备。它通过将测试样品在高温区和低温区之间进行快速转换,在短时间内评估产品因温度剧烈变化而引起的物理和化学性能变化,为产品的改进和质量控制提供关键数据。
该设备主要用于发现产品的设计缺陷和潜在故障,如材料开裂、性能漂移、接触不良、焊点脱落等。其核心目的是提升产品的可靠性、耐久性和环境适应性,是产品质量保证体系中一环。


设备主要采用两箱式或三箱式结构。以常见的三箱式为例,箱体分为高温区、低温区和测试区。测试开始时,待测样品置于测试区。通过篮架或吊笼的机械运动,在预设时间内,将样品快速移入高温区进行高温储存,再迅速移入低温区进行低温储存,如此构成一个完整的温度冲击循环。这种设计实现了温度的快速变化,并有效隔离了高低温之间的相互干扰。
高效可靠: 采用高效的加热器和制冷系统,确保温区快速稳定;转换时间短,能迅速达到测试要求的温度冲击效果。
精准控温: 采用微电脑控制器,实现高精度温度控制和精确的计时功能。
安全稳定: 具备多重安全保护功能,如超温保护、风机过热保护、漏电保护等,确保设备和操作人员安全。
人性化操作: 大尺寸触摸屏,界面友好,程序编辑简单,实时显示运行状态和曲线。
坚固耐用: 内胆采用高品质不锈钢,外壳为冷轧钢板喷塑,结构坚固,耐腐蚀性强。
温度范围: 高温区:+60℃ ~ +200℃;低温区:-10℃ ~ -65℃ 或更低
冲击恢复时间: <5分钟(从高温到低温或反之,恢复至设定温度)
样品篮转换时间: <10秒(可在10~20秒内设定)
预热/预冷时间: 高温槽约30分钟,低温槽约60分钟(从室温限温度)
内箱尺寸: 可根据需求定制(如 40×35×35cm)



应用场景: 电子元器件的来料检验、生产线上的产品筛选、研发阶段的型式试验、失效分析等。
应用领域:
航空航天: 机载电子设备、卫星部件等。
汽车电子: 发动机控制单元(ECU)、传感器、锂电池等。
消费电子: 手机、笔记本电脑、芯片、集成电路等。
光电通信: 光模块、光纤器件等。
该设备的设计和测试严格遵循多项国际与国家标准,主要包括:
GB/T 2423.22(电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验N:温度变化)
IEC 60068-2-14
GJB 150.5A(装备实验室环境试验方法 第5部分:温度冲击试验)
MIL-STD-810H(Method 503.6)

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