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产品型号:TSD-150F-2P
厂商性质:生产厂家
更新时间:2025-10-29
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冷热冲击箱 电子配件温变循环检测设备
一、 产品概述
冷热冲击箱是一款专用于测试材料及电子产品在瞬间经受高温和极低温环境冲击下的耐受能力的可靠性环境试验设备。它通过模拟严苛的温度骤变条件,在短时间内检验电子配件因热胀冷缩引发的物理损伤和性能变化,是保障产品质量关键设备。
二、 工作原理
设备通常采用三箱式(预热区、预冷区、测试区)结构。测试样品置于测试区(吊篮)中。工作时,吊篮在程序控制下,在高温区和低温区之间进行快速移动,使测试样品在极短时间内暴露于不同的温度环境中,完成温度冲击循环。这种结构避免了传统设备降温升温的等待时间,实现真正的“温度冲击"效果。
三、 主要功能及特点
高效转换: 可在数秒内完成高温与低温之间的转换,恢复时间短。
精准控温: 采用微电脑控制器和高精度传感器,确保温度控制精确、稳定。
智能安全: 具备完善的超温保护、漏电保护、风机过热保护及故障自诊断功能。
人性化操作: 大型触摸屏人机界面,程序编辑简单,实时显示运行状态及曲线。
坚固耐用: 内胆采用高品质不锈钢,外壳为优质冷轧钢板,耐腐蚀,寿命长。


冷热冲击箱 电子配件温变循环检测设备
四、 技术特点与优势
复叠式制冷系统: 采用高效的二元复叠式制冷技术,确保快速达到并维持超低温。
独立风道设计: 高温箱、低温箱与测试区独立,有效防止热量相互干扰。
测试再现性高: 性能确保了测试条件的一致性,使不同批次的测试结果具有可比性。
节能设计: 预冷预热独立进行,避免冷热量相互抵消,运行能耗更低。
五、 技术参数
温度范围: 高温区:+60℃ ~ +150℃;低温区:-10℃ ~ -55℃(或更低)
冲击温度: -40℃ ~ +125℃(常用范围)
转换时间: < 10秒(从高温到低温,或反之)
温度恢复时间: 5分钟内恢复至设定冲击温度
温度波动度: ±0.5℃
内箱尺寸: 可根据需求定制(如 50L, 80L, 100L等)
控制系统: 全彩触摸屏PLC控制器,支持程序编辑与数据存储



六、 应用场景与领域
本设备广泛应用于需要验证产品可靠性的电子配件及相关行业:
电子电器: PCB电路板、IC集成电路、芯片、半导体元件、电阻电容、连接器等。
汽车电子: 车载传感器、控制器(ECU)、锂电池、线束、导航系统等。
通讯设备: 手机、基站、光模块、路由器等通讯产品的元器件与整机。
航空航天: 机载设备、卫星部件等在温度环境下的适应性测试。

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