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产品分类
Cassification
产品展示/ Product display
产品型号:SPC-80L-3P
厂商性质:生产厂家
更新时间:2025-10-23
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智能复层恒温恒湿箱 半导体芯片测试仪器
产品详情
本产品是一款智能复层式恒温恒湿试验箱,专为半导体芯片、集成电路等电子元器件的苛刻环境可靠性测试而设计。它采用创新的复层(多层)结构,允许同时进行多个独立或相同条件的测试任务,极大提升了测试效率和设备空间利用率。整机集成智能控制系统、高精度传感器及高效稳定的风道系统,是确保芯片产品质量与可靠性的关键设备。
产品用途
主要用于评估半导体芯片、IC、MCU、功率器件等在温湿度环境下的性能、可靠性、寿命及失效模式。典型测试包括:高低温存储试验、温湿度循环试验、高温高湿老化试验(如85℃/85%RH)、强加速寿命测试等。



智能复层恒温恒湿箱 半导体芯片测试仪器
产品特点
智能复层结构: 多层独立测试空间,可并行不同测试项目,效率倍增。
控制精度: 采用PID智能模糊算法,确保温湿度控制精确稳定,波动度小,均匀性,满足半导体测试的严苛要求。
可靠性: 关键元器件(如压缩机、控制器、传感器)均采用国际品牌,确保设备长期连续稳定运行。
用户友好界面: 大型彩色触摸屏,支持多段程式编辑,实时显示曲线与数据,操作简便。
强大的数据功能: 标配USB或以太网接口,可实时记录、存储和导出测试数据,便于追溯与分析。
高效安全保护: 具备多重安全保护(超温、漏电、过载、风机过热等),确保芯片样品与设备本身安全。
技术参数
温度范围: -70℃ ~ +150℃(或按需定制)
湿度范围: 20% ~ 98% R.H.
控制精度: 温度±0.3℃,湿度±2.0% R.H.
均匀度: 温度≤±0.5℃,湿度≤±3.0% R.H.
升温/降温速率: 1~5℃/min(可按需定制线性或非线性快速温变)
层数配置: 2~4层(可选)
内箱材质: 304不锈钢,耐腐蚀,洁净度高。
工作原理
设备通过压缩机制冷系统实现快速降温和低温环境,通过电加热系统实现升温。湿度系统通过精密微电脑控制,将超纯水(避免半导体污染)转化为水蒸气,由气流送入工作室以实现加湿,并通过制冷除湿或固态除湿方式实现低湿环境。智能控制器综合处理所有传感器数据,精确控制各执行元件,以模拟出设定的恒定或循环变化的温湿度环境。
风道系统
采用顶部垂直送风、底部回风的科学风道设计。配备大功率离心风机和特殊设计的空气通道,确保箱内温湿度均匀稳定,避免出现死角,为芯片测试提供一致的环境应力。
满足标准
满足JESD22-A104(温度循环)、JESD22-A101(高温存储)、JESD22-A110(高加速温湿度应力测试)、IEC 60068-2-1/2/14/30/66、GB/T 2423等国际与国标相关环境试验标准。


应用领域
除半导体芯片测试外,还广泛应用于集成电路、微电子模组、光电器件、汽车电子、航空航天电子、新能源电池及科研单位的可靠性研究与品质验证。
安装与调试
设备需安装在水平、稳固、通风良好的实验室环境中,预留足够的散热空间。电源需符合设备要求(通常为380V三相五线制)。我司提供专业的现场安装、调试及操作培训服务,确保设备正常投用。
售后服务
提供整机一年保修,终身技术支持。全国范围内提供快速的响应服务,远程技术支持即时响应,现场服务48小时内抵达(偏远地区除外)。
注意事项
测试样品不应阻塞箱内出风口和回风口,以免影响均匀性。
长期不使用时应定期开机运行,以延长设备寿命。
加湿用水必须使用纯净水或去离子水,防止水垢损坏加湿器及污染测试环境。
易燃、易爆、强腐蚀性物品严禁放入箱内测试。

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