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产品型号:TSD-200F-2P
厂商性质:生产厂家
更新时间:2025-10-21
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智能程控冷热冲击箱,广泛应用于电子元器件
一、产品概述
智能程控冷热冲击箱是一种环境可靠性试验设备,专门用于模拟产品在高低温瞬间变化的环境下的适应能力。它通过智能程序控制系统,实现了测试过程的自动化,因其高精度和高可靠性,被广泛应用于电子元器件的质量评估与筛选。
二、主要用途
该设备主要用于测试材料、电子产品、汽车部件、航空航天设备及元器件等在温度剧烈变化时,其电气性能、机械性能和化学稳定性的变化,从而快速暴露产品的潜在缺陷,如焊点开裂、材料老化、性能漂移等,是提升产品可靠性与合格率的关键工具。


智能程控冷热冲击箱,广泛应用于电子元器件
三、工作原理
设备通常采用“提篮式"(两箱法)或“三箱式"结构。以常见的三箱式为例,其工作区由高温区、低温区和测试区组成。测试时,通过智能程控系统控制提篮或风门切换,使测试样品在预设的时间内,快速在高、低温槽之间移动,从而实现温度的急剧变化,对样品进行冷热冲击。
四、主要功能及特点
智能程控功能:搭载大尺寸彩色触摸屏,用户可自由编辑、存储多组复杂温度曲线,实现自动化测试,操作简单直观。
快速温变能力:设备能在极短时间内(通常小于5分钟)完成高温到低温或反之的转换,满足最严苛的测试标准。
高精度控温:采用PID控制算法,确保高温槽和低温槽的温度波动度与均匀度极小,保证测试数据的准确性与重复性。
安全可靠:具备完善的超温保护、漏电保护、风机过载保护等多重安全装置,确保设备与样品安全。
高效节能:优化设计的隔热系统和制冷系统,有效降低设备运行能耗。
数据记录与导出:内置数据记录仪,可详细记录整个测试过程的温度曲线与数据,并支持U盘导出,便于后续分析与追溯。



五、技术特点与应用场景
技术特点:
宽温区范围:高温可达+150℃甚至更高,低温可达-65℃甚至更低。
快速恢复:在测试样品放入后,测试区温度能迅速恢复至设定值。
人性化设计:模块化结构便于维护,双层玻璃观察窗便于实时观察样品状态。
应用场景与领域:
电子元器件:IC、芯片、电阻电容、PCB电路板、BGA封装的可靠性筛选。
汽车电子:发动机控制单元、传感器、车载娱乐系统在温度下的性能测试。
通讯设备:手机、基站设备、光模块等通讯产品的气候适应性试验。
新材料研究:评估金属、塑料、复合材料等在热应力下的疲劳寿命。

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