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产品型号:TSD-252F-2P
厂商性质:生产厂家
更新时间:2025-10-09
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LED灯具专用冷热冲击箱 测试光衰与寿命
产品详情与用途
本产品是一款专为LED灯具、光源模组及驱动电源等产品设计的可靠性测试设备。其核心用途是通过在极短时间内,实现高温与极低温环境的快速转换,模拟并加速LED产品在运输、存储及使用过程中可能遭遇的温度变化。这种严苛测试主要用于评估LED灯具的光衰速度、材料老化情况、焊接点可靠性及整体寿命,是提升LED产品质量、验证其设计可靠性的关键工具,广泛应用于LED制造、质检、研发及认证机构。



LED灯具专用冷热冲击箱 测试光衰与寿命
产品特点
精准光衰测试保障:设备预留观测窗及光电传感器接口,可在测试中或测试后即时监测LED的光通量、色温等参数,精准评估光衰性能。
专为灯具优化:针对LED灯具的散热结构及体积,提供充足且合理的测试空间与高承载能力的样品架,确保气流循环均匀,测试结果准确。
极速温变,高效测试:采用制冷与加热系统,实现高温(如+150℃)到低温(如-65℃)或反之的快速冲击,大大缩短测试周期,加速产品缺陷暴露。
温度稳定性:在高温区或低温区停留时,箱内温度波动度小,确保测试条件的一致性与重复性。
人性化智能操作:配备大尺寸触摸屏和PLC控制器,用户可轻松设定复杂的温度曲线、驻留时间和循环次数,数据实时记录与导出,便于追溯与分析。
箱体结构与材质
内箱材质:采用高级SUS304#不锈钢镜面板,耐腐蚀、耐高低温,且表面光洁易于清洁,确保测试环境纯净。
外箱材质:优质A3钢板,表面经防锈处理及静电喷涂,结构坚固,美观耐用。
保温层:高强度聚氨酯发泡,厚度达100mm以上,隔热性能,有效减少热量损失,提升能效并保证外壁安全。
密封设计:箱门配备双层硅橡胶密封条和高强度门锁,确保测试过程中箱内环境与外界隔离,无温度泄漏。



结构设计
本设备采用经典的三箱式(预冷区、预热区、测试区)静止型结构。测试时,待测LED灯具固定于测试区,通过气动风门切换,将预先储存在预冷区或预热区的低温或高温气流快速引入测试区,实现对样品的瞬时温度冲击。这种设计避免了二箱式移动带来的机械振动,特别适合结构相对复杂、怕震动的LED整灯测试。测试区内部的风道经过精密计算与仿真优化,形成均匀稳定的温度场,保证所有测试样品受热/受冷一致。
技术参数
温度范围:高温区:+60℃ ~ +150℃;低温区:-10℃ ~ -65℃(可选)
升温/降温速率:5℃/min ~ 15℃/min (具体取决于型号与温度点)
温度波动度:≤±0.5℃
温度偏差:≤±2.0℃
内箱尺寸:可根据客户需求定制(如 40cm x 40cm x 40cm 或 50cm x 50cm x 50cm)
控制系统:7英寸全彩触摸屏,PLC程式控制
安全保护:独立的超温保护、压缩机过载/超压保护、风机过流保护、漏电保护及故障报警系统。

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