电子元件专用线性快速温变试验箱专为电子元器件、PCB电路板及微模块量身打造的高可靠性环境测试设备。它超越了传统恒温恒湿箱的静态模式，核心在于模拟并再现产品在运输、存储及使用过程中所遭遇的剧烈、连续的温度变化环境，从而在极短时间内激发并暴露潜在的材料缺陷与工艺瑕疵。

电子元件专用线性快速温变试验箱

产品详情

本产品是专为电子元器件、PCB电路板及微模块量身打造的高可靠性环境测试设备。它超越了传统恒温恒湿箱的静态模式，核心在于模拟并再现产品在运输、存储及使用过程中所遭遇的剧烈、连续的温度变化环境，从而在极短时间内激发并暴露潜在的材料缺陷与工艺瑕疵。

主要用途

该设备主要用于电子元器件的高加速寿命测试（HALT） 和应力筛选（HASS）。通过施加预设的、连续线性的快速温变应力，能够有效发现产品因不同材料热膨胀系数不匹配导致的焊接开裂、接触不良、芯片脱层等早期故障，是提升产品量产直通率与场外失效率的关键工具。

电子元件专用线性快速温变试验箱

• 温变速率：提供5℃/min至20℃/min等多种可选的线性升降温速率，满足不同严酷等级测试需求。

• 温度范围：-70℃ 至 +150℃（可根据需求扩展），覆盖绝大多数电子元件的工作条件。

• 内箱容积：标准提供80L至1000L等多种规格，确保测试负载不影响内部气流循环与温变速率。

• 控制精度：温度波动度≤±0.5℃，温度偏差≤±2.0℃，保证测试条件的重复性与准确性。

除湿与加湿系统

考虑到电子元件对湿度的敏感性，本设备集成了一套智能低湿控制系统。在低温阶段，通过高效的双级压缩制冷技术，深度冷却蒸发器，将箱内空气中的水分析出并排出箱外，可实现低至10%的相对湿度，有效防止结露对精密元件的损害。如需进行湿热循环测试，可选配蒸汽加湿系统，实现精确的湿度控制。

工作原理

设备基于强制对流热交换原理。高温区通过大功率镍铬合金电热丝加热；低温区则依赖复叠式制冷系统，通过节流装置将混合制冷剂送入蒸发器，吸收箱内热量。控制系统根据预设的线性曲线，精确计算并动态调节加热功率与制冷剂流量，通过大风量离心风机驱动箱内气流，使之均匀、快速地流经换热器与测试样品，从而实现精确的线性温度变化。

结构设计特点

• 箱体结构：采用模块化拼装设计，内胆为SUS304#不锈钢镜面板，确保耐腐蚀与清洁；外壁为优质冷轧钢板喷塑。

• 保温层：采用高压聚氨酯发泡与玻璃纤维棉复合保温层，限度减少冷量损失，提升能效。

• 气流设计：独特的风道与出风口设计，形成水平或垂直的均匀气流，确保工作区内各点温度一致性。

• 样品架：标配可调节高度的不锈钢样品架，承重性强，并充分考虑气流的通透性。

安全操作注意事项

1. 严禁测试：禁止将易燃易爆、强腐蚀性及在测试中会释放样品放入箱内。

2. 负载限制：测试样品的总体积、总重量及发热功率不得超过箱体规定限值，以免影响性能与安全。

3. 定期检查：需定期检查压缩机油位、电气接线端子是否松动，并清洁冷凝器过滤网，保证散热。

4. 紧急情况：运行中若闻到焦糊味或听到异响，应立即紧急停机并切断总电源，联系专业人员检修。

5. 取放样品：高温或低温测试结束后，需佩戴隔热手套才能开启箱门，防止烫伤或冻伤。