高低温冷热冲击箱 电子模块耐候测试机是一款专为电子模块、PCB板、半导体芯片等元器件设计的高性能可靠性测试设备。它通过模拟产品在高低温环境之间瞬间转换的严苛条件，检验其因热胀冷缩效应引发的物理和化学性能变化。该设备采用高精度控制系统和高效的制冷/加热系统，确保测试过程的精确、可靠与高效，是提升电子产品耐久性和失效率的关键工具。

高低温冷热冲击箱 电子模块耐候测试机

产品概述

本设备是一款专为电子模块、PCB板、半导体芯片等元器件设计的高性能可靠性测试设备。它通过模拟产品在高低温环境之间瞬间转换的严苛条件，检验其因热胀冷缩效应引发的物理和化学性能变化。该设备采用高精度控制系统和高效的制冷/加热系统，确保测试过程的精确、可靠与高效，是提升电子产品耐久性和失效率的关键工具。

主要用途

本设备广泛应用于电子电工、汽车零部件、航空航天、通讯科技、集成电路等领域。其主要用途包括：电子元器件的早期故障筛选（ESS测试）、产品质量控制、产品研发阶段的性能验证、以及评估产品的整体可靠性寿命。它能有效暴露产品在设计、材料和生产工艺上的潜在缺陷。

高低温冷热冲击箱 电子模块耐候测试机

技术参数

• 温度范围： 高温箱：+60℃ ~ +150℃；低温箱：-10℃ ~ -55℃（或依定制）

• 冲击范围： -40℃ ~ +125℃（示例范围，可定制）

• 转换时间： 小于10秒（试样从高温区暴露到低温区，或反之）

• 温度恢复时间： 小于5分钟（恢复到设定温度）

• 内箱尺寸： 可根据需求定制，如 40cm * 35cm * 35cm

• 控制器： 彩色触摸屏PLC，支持多段程式编辑，带USB数据记录功能

设备亮点

1. 三箱式静态冲击结构： 采用独立的预热区、预冷区和测试区，测试过程中试样无需移动，避免了移动带来的机械冲击，特别适用于精密电子模块的测试。

2. 超快速温度冲击： 通过优化的气流通道和强力风门切换系统，实现温区内温度的瞬时、剧烈变化，再现真实环境中的温度冲击。

3. 高可靠性风门系统： 采用特殊设计的高密封性风门和执行机构，确保高低温气流互不干扰，寿命长，故障率低。

核心优势

• 高测试效率： 快速的温度转换和恢复能力，大幅缩短测试周期，加快产品研发和上市速度。

• 稳定性： 关键部件如压缩机、循环风机均采用国际品牌，保证设备长期连续稳定运行。

• 人性化操作： 直观的触摸屏界面，操作简单，可远程监控，并具备完善的报警和保护功能。

• 节能环保： 制冷系统设计和保温技术，有效降低设备运行能耗。

注意事项

• 设备应安置在通风良好、无尘、无振动的地面。

• 待测产品的总质量、体积及发热量需在规定范围内，不可过载。

• 定期检查并清洁冷凝器，确保散热效果，避免设备过热报警。

• 严禁测试易燃、易爆、易挥发性物质。

工作原理

设备基于高温蓄热和低温蓄冷的工作原理。其内部分为高温区、低温区和测试区。测试前，高低温区分别预热和预冷至设定温度。测试时，通过程序控制风门开关，将预先储存好的高温或低温气流在极短时间内吹入测试区，使放置于测试区的样品迅速承受剧烈的温度变化，从而完成冷热冲击测试。

产品特点

• 精准温控： 采用PID智能算法，控温精确，波动小。

• 坚固结构： 内外箱采用优质不锈钢，保温层为高强度聚氨酯泡沫，保温性能好。

• 全面安全保护： 具备超温、过流、缺相、压缩机延时等多种安全保护装置。

• 数据可追溯： 支持测试数据、曲线记录与导出，便于质量分析与追溯。