冷热冲击箱 半导体芯片环境耐候试验设备是专为测试产品在快速温度变化环境下的耐受性能而设计的高可靠性环境试验设备。它通过将测试样品在高温区和低温区之间进行快速转换，在极短时间内产生剧烈的温度冲击，从而模拟半导体芯片在运输、存储、启动及运行过程中可能遭遇的严酷温度条件。

冷热冲击箱 半导体芯片环境耐候试验设备

生产厂家广东皓天检测仪器有限公司拥有专业的生产研发技术，一站式周到服务。作为一家专注于试验设备产品的大型仪器制造商，皓天设备致力于为消费者提供技术、品质的优秀产品。

一、产品概述

冷热冲击箱，亦称温度冲击试验箱或三箱式温变箱，是专为测试产品在快速温度变化环境下的耐受性能而设计的高可靠性环境试验设备。它通过将测试样品在高温区和低温区之间进行快速转换，在极短时间内产生剧烈的温度冲击，从而模拟半导体芯片在运输、存储、启动及运行过程中可能遭遇的严酷温度条件。

二、产品用途

本设备主要应用于评估半导体芯片、集成电路（IC）、微电子模块、PCB板等电子元器件的可靠性。其核心用途包括：进行温度循环应力筛选，以提前暴露产品潜在的材料缺陷和工艺瑕疵（如焊点开裂、芯片分层）；验证产品在温度变化下的功能稳定性和性能参数，是确保芯片质量、提升产品良率、缩短研发周期的关键设备。

冷热冲击箱 半导体芯片环境耐候试验设备

三、技术参数

• 温度范围： 高温区：+60℃ ~ +200℃（可调）；低温区：-10℃ ~ -65℃（可调）

• 冲击温度： 高温：+85℃ / +125℃ / +150℃（常用）；低温：-40℃ / -55℃ / -65℃（常用）

• 转换时间： ≤10秒（试样从高温区暴露到低温区，或反之的完成时间，满足严格测试标准）

• 温度恢复时间： ≤5分钟（冲击完成后，工作室内温度恢复到设定冲击温度的时间）

• 试样容量： 根据型号不同，可容纳特定尺寸的芯片托盘或测试工装

• 控制精度： ±0.5℃

四、设备亮点

1. 三箱式独立结构： 采用预冷区、预热区和测试区独立设计，测试样品由吊篮传送，避免箱内气流相互干扰，确保温度冲击的剧烈性和准确性。

2. 超快速转换： 高效的机械传动系统和优化的气流设计，确保样品在10秒内完成高低温区域的切换，实现真正的“冲击"效果。

3. 温度稳定性： 采用进口高性能压缩机及加热器，配合PID精确控制算法，保证高温区和低温区的温度稳定与均匀。

五、产品优势

• 高可靠性： 关键元器件均选用国际品牌，确保设备长期稳定运行，故障率低。

• 用户友好： 大尺寸触摸屏人机界面，编程逻辑清晰，操作简便，可存储大量试验程序。

• 安全保障： 具备多重安全保护功能，如超温保护、过流保护、样品保护等，确保设备和测试样品的安全。

• 节能环保： 优化设计的隔热系统和制冷回路，有效降低设备运行能耗。

六、注意事项

• 测试样品的总质量、体积及发热量需在设备允许范围内，以免影响冲击效果。

• 设备应安置在通风良好、无尘、无振动、环境温度适宜的实验室内。

• 定期进行维护保养，如清洁冷凝器、检查传动机构，以维持设备性能。

• 放置样品时，应确保样品之间留有足够间隙，以保证气流畅通，温度冲击均匀。

七、工作原理

设备基于“吊篮移动式"原理工作。测试开始时，样品置于测试区（吊篮中）。设备预先将高温槽和低温槽加热或冷却至设定温度。试验指令发出后，吊篮在机械驱动下，迅速将样品从当前温区移动到目标温区（如从高温区移至低温区），使样品瞬间暴露在温度环境中。经过设定的驻留时间后，吊篮再次快速移回，完成一次温度冲击循环。

八、产品特点

综上所述，本冷热冲击箱的核心特点可概括为：冲击速率快、温度控制精准、运行稳定可靠、操作智能简便、安全防护全面。它能够有效再现半导体芯片在实际应用中面临的苛刻温度环境，是进行产品可靠性筛选和质量验证利器。