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电子元器件高低温老化箱,提升产品耐久性
一、产品详情
电子元器件高低温老化箱是专为电子元器件可靠性测试设计的环境试验设备,采用冷轧钢板外壳与不锈钢内胆,搭配高精度温控系统,可模拟高低温循环、恒定温湿度等复杂环境,箱体容积涵盖 50 - 1000L 多种规格,满足不同批量元器件测试需求,设备配备智能触控屏与数据存储功能,支持远程监控与故障报警,操作便捷且安全性高。
电子元器件高低温老化箱,提升产品耐久性
三、技术参数
温度范围:-40℃~150℃(可定制 - 70℃~200℃);2. 温度波动度:±0.5℃;3. 温度均匀度:±2℃;4. 升温速率:3℃/min(快 5℃/min);5. 降温速率:1℃/min(快 3℃/min);6. 电源:AC 380V/50Hz;7. 控制系统:PLC 可编程控制,搭配 7 英寸彩色触控屏。
六、应用场景
采用双级制冷技术,低温区降温速度快且稳定,避免温度波动影响测试结果;2. 内胆采用圆弧角设计,无卫生死角,便于清洁维护,适合长期连续测试使用;3. 智能控制系统支持多语言切换,操作界面简洁,新手易上手;4. 设备占地面积小,可根据实验室空间灵活摆放,节省场地资源。
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