电子元器件专用冷热冲击试验箱可靠性高是一款为模拟温度变化环境而设计的高可靠性测试设备。它主要用于考核电子元器件（如芯片、电阻、电容、PCB板、IC、连接器等）在瞬间经历高低温转换时的耐受能力，从而发现因材料热膨胀系数不匹配、焊接疲劳等引起的潜在缺陷。该设备通常采用高低温蓄热式三箱式（预冷区、预热区、测试区）或两箱式（吊篮式）结构，确保温度转换迅速、测试区域温度稳定。

电子元器件专用冷热冲击试验箱可靠性高

产品详情

电子元器件专用冷热冲击试验箱是一款为模拟温度变化环境而设计的高可靠性测试设备。它主要用于考核电子元器件（如芯片、电阻、电容、PCB板、IC、连接器等）在瞬间经历高低温转换时的耐受能力，从而发现因材料热膨胀系数不匹配、焊接疲劳等引起的潜在缺陷。该设备通常采用高低温蓄热式三箱式（预冷区、预热区、测试区）或两箱式（吊篮式）结构，确保温度转换迅速、测试区域温度稳定。

核心用途与应用场景

其核心用途是执行冷热冲击测试（或称温度循环测试），这是一种加速应力测试方法，能够在短时间内揭示元器件在数年使用中可能因温度反复变化而出现的故障。

电子元器件专用冷热冲击试验箱可靠性高

典型应用场景包括：

• 研发阶段： 验证新产品的设计可靠性与材料选择合理性。

• 质量抽检（IQC）： 对进货的元器件进行可靠性筛查，确保来料质量。

• 失效分析（FA）： 对失效品进行复测，分析其失效模式与温度冲击的关联。

• 生产过程中： 对关键批次产品进行100%筛选，剔除早期故障产品，提高出厂产品质量。

技术特点与优势

1. 高可靠性设计： 采用高品质压缩机、循环风机、智能控制器及关键电气元件，确保设备能够长时间连续稳定运行，故障率极低，保障测试数据的准确性与连续性。

2. 极速温变转换： 转换时间通常小于10秒，能够迅速在高温（如+150°C）和低温（如-65°C）之间切换，提供严苛且真实的温度冲击环境。

3. 精准温控： 测试区温度波动度小，均匀性高，确保所有样品在一致的条件下接受测试，结果可比性强。

4. 人性化操作： 配备大尺寸触摸屏和可编程控制器（PLC），用户可轻松设定复杂的温度曲线、循环次数及驻留时间，并具备数据存储和USB导出功能。

5. ** robust结构与安全防护：** 内胆采用SUS304不锈钢，耐腐蚀性强；具备多重安全保护（如超温保护、压缩机过载保护、漏电保护等），确保人机安全。

主要技术参数

• 温度范围： 高温区：+60°C ~ +200°C；低温区：-10°C ~ -65°C

• 转换时间： ≤10秒（样品从高温区到低温区或反之）

• 温度恢复时间： ≤5分钟内恢复至设定温度

• 内箱尺寸： 可根据需求定制（如 40*40*40cm）

• 控制器： 7英寸彩色触摸屏，程序容量100组

• 冷却方式： 机械式压缩机制冷，风冷或水冷

应用领域

该设备广泛应用于半导体、汽车电子、航空航天、通信设备、消费类电子等所有对电子元器件可靠性有要求的行业，是提升产品质量、缩短研发周期、赢得市场信任的关键工具。